哪里可以做sem测试（场发射扫描电子显微镜）

型号： Zeiss supra55

适用领域

高分子材料、精细化工、生物化学、药物化学等有机化合物和部分无机化合物的结构分析

主要技术指标：

分辨率：1.0nm @ 15kV

1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV

放大倍数：12 ~ 900,000x 加速电压：

0.1 ~ 30kV

样品要求

1)薄膜样品：直径小于12 mm，高度小于3 mm，要求样品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超过范围需收取相应加工费

2) 液体样品：请配好胶体溶液，保证样品均匀分散，要求无沉积，溶液澄清透明。样品如需超声或稀释请事先说明，稀释请提供相应的溶剂（去离子水除外），并说明稀释倍数。液体样品一般涂到新鲜解离的云母片上，如样品在云母片上吸附不好，请客户自行将样品涂到其他底材上（如硅片）进行测样；

3) 固体粉末样品：由于AFM是盲扫，对样品的分散性要求非常高，因此最好是以液体的形式进行测试。固体粉末样品一般只适合溶解性或分散性较好的样品，通常提供不超过30 min的超声预处理，溶剂由客户提供（去离子水除外），并由客户提供详细的制样条件

4)生物样品：蛋白、细胞及DNA等样品