MTK 平台SIM卡出现概率性掉卡
SIM卡出现概率性掉卡,是什么原因,该如何解决?
概率性掉卡问题一般是HW干扰导致。
SW上针对掉卡现象的救卡流程为首先是三次fast recovery,三次reset sim来重新识别卡。
若三次fast recovery没能将卡救回来,接着再启动full recovery enhancement timer,此timer interval默认为30s,直到将卡救回来。
若三次fast recovery没能将卡救回来,接着再启动full recovery enhancement timer,此timer interval默认为30s,直到将卡救回来。
若是full recovery timer来救卡,网络恢复较慢,会再次出现”XXXX欢迎您”欢迎界面。
从HW上彻底排查干扰源,以HW手段解决。
1) SIM受到干扰可分为两大类:
SIM IO受到干扰,这种情况一般是layout导致,数字信号受到干扰0->1,1->0。1.8V的SIM更容易受到这种干扰。
SIM本身受到干扰,一般是在PA发射信号时表现比较显著。
2) 可通过SIM driver log粗略定位是IO受到干扰还是SIM本身受到干扰:
SIM掉卡后,首先会有三次fast recovery捡卡机制,若这三次recovery,能将卡找回来,表明受到的是IO干扰,通过reset卡,避开了信号受干扰的时刻,然后能将SIM卡找回来。
若三次fast recovery不能将卡找回来,表明SIM本身受到干扰。
HW实验方法:
(1)检查layout走线;
(2) 量SIM POWER,IO波形,通过波形确认是否有noise;
SIM IO受到干扰,这种情况一般是layout导致,数字信号受到干扰0->1,1->0。1.8V的SIM更容易受到这种干扰。
SIM本身受到干扰,一般是在PA发射信号时表现比较显著。
2) 可通过SIM driver log粗略定位是IO受到干扰还是SIM本身受到干扰:
SIM掉卡后,首先会有三次fast recovery捡卡机制,若这三次recovery,能将卡找回来,表明受到的是IO干扰,通过reset卡,避开了信号受干扰的时刻,然后能将SIM卡找回来。
若三次fast recovery不能将卡找回来,表明SIM本身受到干扰。
HW实验方法:
(1)检查layout走线;
(2) 量SIM POWER,IO波形,通过波形确认是否有noise;
(3)SIM1_DATA,SIM1_CLK,SIM1_RST 上分别加12pF 的电容;
(4)用导电箔将SIM包起来,并良好的导地;
(5)降低天线发射功率改变天线发射方向
(4)用导电箔将SIM包起来,并良好的导地;
(5)降低天线发射功率改变天线发射方向