LPDDR4 JEDEC标准测试实例解析--地址总线写操作

        说完DQ信号的读写测试，接下来，再来聊一聊命令及地址总线（CA Bus）的测试，由于CA bus只有一个信号流向，因此，只需要进行写操作的测试即可；

        如下图所示，为JEDEC标准中定义的CA相关的测试参数，接下来，将对测试项逐一进行解析；

         tCIVW和vCIVW的定义如下图所示，分别指的是CA信号眼图的时间宽度和电压幅度限制值，需要根据信号速率在上表中进行选择，这不是测试项，而是一个测试的固定参考值的选取；

         如下图所示，为CA1眼图模板的实测波形，中间的灰色矩形框即由上述两个参数定义的眼图限制区域，测试时，信号眼睛要张开足够大，以避免碰触这一区域；

        如下图所示：

        SRIN_cIVW，用于验证处于vCIVW电压区间内的信号边沿斜率，即下图中的tr和tf值；

        tcIPW，用于验证在Vcent_CA上定义的最小CA输入脉冲宽度，也可以简单地理解为vCIVW的一半处；

         如下图所示，为tcIPW的实测波形；

         如下图所示，为SRIN_cIVW的实测波形；

         CA_VIHL_AC的定义如下图所示，用于验证以Vcent_CA为中心的峰峰值电压是否满足要求；

         如下图所示，为CA_VIHL_AC的实测波形；

         综上所述，相较于DQ信号，CA总线的时序测试项更少，并且，测试参数大同小异，因此，测试难度更低，总体来看，CK、DQS和DQ的时序是LPDDR4测试的重点，需要引起设计者足够的关注度。

        扩展阅读：

LPDDR4 JEDEC标准测试实例解析--写操作_lpddr4测试_一只豌豆象的博客-CSDN博客

LPDDR4 JEDEC标准测试实例解析--读操作_一只豌豆象的博客-CSDN博客