FCN中的上采样细节总结

上采样
对于低分辨率的特征图，我们常常采用上采样的方式将它还原高分辨率，这里陈述三种方法。

3.1双线性插值上采样

首先线形插值是什么？线形插值就是知道两个点的值，连一条直线，来确定中间的点的值，具体怎么做，我们找(x1,y1)、(x2,y2)连成一条直线，[x1,x2]中的点就可以用线上的点表示。
双线性插值是一个三维的坐标系，我们找到四个点来确定中心点坐标，如下图为网上找的一个例子。

这种方法计算简单，无需训练。

3.2反卷积上采样

3.2.1 怎样上采样
普通的卷积操作，会使得分辨率降低，如下图3*3的卷积核去卷积4*4得到2*2的输出。上采样的过程也是卷积，那么怎么会得到分辨率提高呢？之前我们看卷积时有个保持输出与输入同分辨率的方法就是周围补0，嗯嗯。那么你是否灵机一动，那要是让分辨率提高呢？是不是再多补一些0，对的看看图2。

图1 常规卷积操作

图2 上采样操作（四周补0）

其实呢作者在这又换了个方法，你想一下，只在四周补0会导致最边上的信息不太好，那我们把这个信息平均下，在每个像素与像素之间补0呢，看图3就是这么操作的。

图3 反卷积插零

3.2.2 反卷积补多少零？
然后我们看一下参数的计算，先看一下四周补0的情况。下图给出了发卷积的参数，我们要保持转置卷积的输出核卷积的输入相同也就是i=o’，转置卷积就是反卷积。这里主要算出p为多少就是补多少个0，看我图5给出了计算。

图4 四周补零反卷积

图5 四周补0计算

再看一下反卷积间隙补0的计算如图6所示。其中插零输入是先往里面插入i‘-1个0。再计算p’

图6 间隙补0反卷积

图7 间隙补零反卷积计算

3.3反池化上采样

反池化可以用下图来理解，再池化时需要记录下池化的位置，反池化时把池化的位置直接还原，其他位置填0。

3.4 小结

三种方法各有优缺，双线性插值方法实现简单，无需训练；反卷积上采样需要训练，但能更好的还原特征图；