光强测量单元

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一 项目需求

这个小项目是DTU的同学拜托我帮忙做的，就是使用光电探测器测量出光的强度，并将测量值显示在屏幕上面。光电探测器使用的是Thorlabs的PDAPC1，这是一款增益可调的传感器，输出电压信号。屏幕选用市面上常见的0.96寸OLED屏，IIC通讯。需求分析清楚了，整个项目的方案也就明了。我们使用单片机ADC测量传感器的输出电压，计算出相应的光强值并通过IIC通讯显示在屏幕上。

二 硬件

原理图

PCB图与实物图

整个电路设计还是比较常规的，但是用于给光强传感器供电的±12V稳压电路设计还是值得探讨的。

很多运放电路采用的是双电源供电，正电源比较好解决，对于负电源，较为常见的方案是使用电荷泵将正压转换成负压，常用的芯片是ICL7660，使用电荷泵的缺点是输出电流较小（但用于一般的运放电路也并无多大问题）。

这里我采用的方案是将TPS5430稳压电路的输出点接GND，接地点接输出，这样原本接地点的电压就是-12V了，核心要义就是：电压是相对的

三 软件

软件中使用的单片机硬件资源有ADC中断，定时器中断，IIC使用的是软件模拟IIC。为了使用电压采样值更加稳定，这里使用了均值滤波的方式。
程序流程图

这里PO出ADC均值滤波的程序。ADC每完成一次转换，就触发一次中断，在中断回调函数中将采样值存放在数组里面，当达到指定采样次数的时候，就将标志位置1，在while（1）循环中对刚采样的一组电压值进行平均滤波。

#define MAX_sample 10
#define min_size 3
#define max_size 3

uint16_t ADC_Value[MAX_sample];
uint16_t ADC_Value_Tmp[MAX_sample];
uint16_t ADC_Value_Display;
uint8_t pd=0;

int main(void)
{
    HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);    //AD校准
	HAL_ADC_Start_IT(&hadc1);
    
    while(1)
    {
        if(ADC_Flag)
		{
	     	ADC_Data_Handle();
			ADC_Flag=0;
		}
    }
}

void ADC_Data_Handle(void)
{
	uint32_t sample_sum=0;
	/*中位值平均滤波*/
	//.............排序
	for(uint8_t i=0;i<MAX_sample-1;i++)
	{
		uint16_t temp;
		for(uint8_t j=0;j<MAX_sample-1;j++)
		{
			if(ADC_Value_Tmp[j]>ADC_Value_Tmp[j+1])
			{
				temp=ADC_Value_Tmp[j];
				ADC_Value_Tmp[j]=ADC_Value_Tmp[j+1];
				ADC_Value_Tmp[j+1]=temp;
			}
		 }
	 }
	 //.............计算平均值
	 for(uint8_t k=min_size;k<MAX_sample-max_size;k++)//去掉min_size个最小值、max_size个最大值
	 {
		 sample_sum+=ADC_Value_Tmp[k];
	 }
	 
	 //...............计算实际电压值
	 ADC_Value_Display=(sample_sum/(MAX_sample-min_size-max_size))*3300/4095;
}

void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef* hadc)
{
	ADC_Value[pd++]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
	if(pd==MAX_sample)  //达到预设的最大采样值
	{
		pd=0;
		if(ADC_Flag==0)
		{
			ADC_Flag=1;
			memcpy(ADC_Value_Tmp,ADC_Value,sizeof(ADC_Value));
		}
	}
}

四 总结

项目总体难度不大，每一次项目的梳理都是对知识的总结，只有这样才能进步的更快。项目源码github链接：HaoJosephWen/Code-of-blog (github.com)