所谓边沿检测,就是检测输入信号即上升沿或者下降沿的检测。
边沿检测的电路很好实现:上一时刻为低电平,而当前时刻为高电平,此时就为上升沿;上一时刻为高电平,而当前时刻为低电平,此时就为上升沿。
通过边沿采样技术实现上升沿捕获进而实现外部信号的上升沿触发。
边沿检测电路的实现方法;
1、always @ (posedge signal)
FPGA不便于处理此类触发信号,除非外部输入信号作为全局时钟使用。另外众所周知由于电路不能能避免抖动现象,所以用这个检测方法是明显不合理的。
2、一级D触发器实现; 我们先看下代码,
module shizhong
(
input clk,
input rst_n,
input spi_cs,
output mcu_write_done
);
reg spi_cs_r0;
always@(posedge clk or negedge rst_n)
begin
if(!rst_n)
begin
spi_cs_r0 <= 1;
end
else
begin
spi_cs_r0 <= spi_cs;
end
end
assign mcu_write_done = (~spi_cs_r0 & spi_cs) ? 1'b1 : 1'b0; //posedge
endmodule
代码综合后RTL视图如下:
正常工作,没有复位的情况下,工作流程如下:
(1)D触发器经过时钟clk的触发,输出spi_cs信号,保存了t0时刻的信号。
(2)同时由spi_cs直接输出到与门,保留了当前时刻t1的触发信号
(3)经过与门输出信号pos_edge,neg_edge
a) 只有t0时刻为高,且t1时候为低的时候,与门输出高,此时为下降沿。
b) 只有to时候为低,且t1时候为高的时候,与门输出高,此时为上升沿。
一级D触发器在寄存器比较时,前一时刻通过D触发器已经统一到FPGA的时钟域,而当前时刻直接从外部输入,与FPGA整体逻辑电路不在同一时钟域,为提高系统的稳定性我们可以采用第三种方法即二级D触发器。
3、二级D触发器;我们仍然先看代码:
module shizhong
(
input clk,
input rst_n,
input spi_cs,
output mcu_write_done
);
reg spi_cs_r0, spi_cs_r1;
always@(posedge clk or negedge rst_n)
begin
if(!rst_n)
begin
spi_cs_r0 <= 1; spi_cs_r1 <= 1;
end
else
begin
spi_cs_r0 <= spi_cs; spi_cs_r1 <= spi_cs_r0;
end
end
assign mcu_write_done = (~spi_cs_r1 & spi_cs_r0) ? 1'b1 : 1'b0;
endmodule
代码综合后RTL视图如下:
正常工作,没有复位的情况下,工作流程如下:
(1)一级D触发器经过时钟clk的触发,输出当前spi_cs信号,保存了t0时刻的信号。送往与门。
(2)二级D触发器经过时钟clk的触发,输出上一时刻spi_cs信号,保存了t1时刻的信号。通过非们送往与门。
(3)经过与门输出信号pos_edge,neg_edge
a) 只有t0时刻为高,且t1时候为低的时候,与门输出高,此时为下降沿。
b) 只有to时候为低,且t1时候为高的时候,与门输出高,此时为上升沿。
利用CLK打两拍,实现了上一时刻信号和本时刻信号和FPGA整体逻辑电路统一到同一时钟域。
这里要加两级的触发器的另一个原因,因触发器跳转产生滞后信号只能在时钟的上升沿,而被检测信号tigger并不一定是在一级触发器跳转的时钟上升沿到来,这样一级触发器所产生的滞后信号与tigger相差就达不到一个CLK周期,所以产生的脉冲信号就小于一个CLK周期了,不利于后面电路对其的应用。
边沿检测应用:
(1)将时钟边沿使能转换为边沿检测使能,使时钟同步化。
(2)捕获信号的突变(UART,SPI等信号使能突变)
(3)逻辑分析仪中信号的边沿检测。
实现指标及存在缺陷:
(1)增大CLK信号可以增强边沿检测的效率,但不能滤去跳变的杂波。
(2)减少CLK可以有效滤去跳变的杂波,但不能及时检测到边沿跳变。
(3)增加DFF能更好的滤除杂波,寄存信号,但同时检测延时大。
本文所引用到的博文为:http://blog.chinaaet.com/crazybingo/p/11194