岁月的脚步，被时间冲刷——如何修复EM ?

今天给大家介绍一下另一类signoff阶段需要修复的Violation——EM violation。

首先，我们也还是来了解下EM violation的概念。EM全称electro-migration，电子迁移。当电子流过金属层时，会与金属层中的原子发生碰撞，碰撞导致金属的电阻增大，并且会发热。在一定时间内如果有大量的电子同金属原子发生碰撞，金属原子就会沿着电子的方向进行流动。导致金属连线断裂，这种现象我们称之为EM电迁移现象。

那在我们后端布局布线中，EM一般产生的原因有以下几种：

1）金属线太长

2）fanout太多

3）cell驱动太强

4）数据的transition time太快

我们依次分析一下这些原因：

1）金属线太长

金属线太长，有时会导致EM违例的产生。因为过长的金属会增加互连线的电阻，使得线上的局部温度增加，可能就会出现EM的可靠性问题。

2）fanout太多

同样地，如果fanout太多的话，也会导致大电流的产生，特别是在很多fanout同时翻转的情况下，会明显地导致金