相位偏折术原理概述

相位偏折术是一个比较冷门的方向，主要用于测量镜面物体。一直以来，干涉法都是测量镜面最佳方法，精度可以达到波长的几百分之一，但是有一些局限性：

1. 测量自由面型的镜面物体时，干涉法所需要的光学补偿原件制作复杂且昂贵；

2. 回程误差，干涉法很难快速标定；

3. 测量环境苛刻，不适合干涉法测量，因为轻微抖动、温度变化，会给测量记过带来很大误差；

解决：PMD，相位偏折术，对环境不敏感，没有回程误差，因而标定相对简单，可以测量自由曲面。其实偏折术系统跟结构光系统是非常相似的，回顾下它的重建流程：

1. 标定相机，以及屏幕、相机位置关系

2. 使用屏幕投影条纹（结构光使用投影仪）

3. 解码获取表面梯度（结构光直接获取高度）

4. 梯度积分获取高度信息

额外说明的是，偏折术系统中常说的“精度”达到几纳米，不是传统意义上的“精度”，这是因为偏折术通常用来测量纯镜面反射的物体表面，比如说天文望远镜的镜面，它的模