JTAG 和 SWD 在嵌入式开发中是必须要知道的接口,用来配合 J-Link 、ULINK、ST-LINK 等仿真器在线调试嵌入式程序。此外,还有飞思卡尔芯片中的 Background debug mode(BDM) 接口,Atmel 芯片中的 debugWIRE ;Nexus 5001 论坛制定的全球嵌入式处理器调试接口标准 IEEE-ISTO 5001。
JTAG
JTAG(是制定它的工作组 Joint Test Action Group(联合测试行动小组)的缩写)是用于在制造后验证设计和测试印刷电路板的行业标准。它指定使用专用调试端口实现串行通信接口,以实现低开销访问,而无需直接从外部访问系统地址和数据总线。其相关标准于 1990 年标准化为 IEEE Std. 1149.1-1990(该标准的全称是 Test Access Port and Boundary-Scan Architecture(测试访问端口和边界扫描架构))。
联合测试行动小组成立于 1985 年,旨在开发一种在制造后验证设计和测试印刷电路板的方法。