DFT设计绪论

DFT设计的主要目的是为了将defect-free的芯片交给客户。

产品质量，通常使用Parts Per million(PPM)来衡量。

但是随着IC从SSI到VLSI的发展，在test上花销的时间越来越多，test的quality却很难提高，这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术。

 

DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题。在1970-1980年间，提出了ad hoc等可测试性设计的方法。

可以提高一个design的可测试性，但是对于sequential的电路还是很难进行ATPG的产生。

 

对于combinational的电路，有很多ATPG的算法可以用来进行test pattern的生成，但是对于sequential的电路却很难。

 

后来带有直接外部访问的storage elements的提出，才解决了sequential的可测性与可观性。这样的cell叫做scan cells。

 

scan design是目前为止，使用最多的structure的DFT方法，通过将多个storage element连接为多个shift register来实现。

 

一个design中，所有的storage element都做了scan inserting，这样的design叫做full-scan design；

一个design中，大多数的(超过98%)的storage element做了scan inserting，这样的design叫做almost full-scan design。