Tessent On-Chip Clock Controller

在现代化设计中，on-chip clock control（OCC）电路通常被用来在测试期间管理时钟，这样的时钟控制器在ATPG process的控制下可以生成slow-speed或者at-speed时钟序列。Tessent OCC时通过Tessent Shell创建一个时钟控制器的实现，被设计用来满足ATPG、Logic BIST、EDT和Low Pin Count Testde scan test。

Tessent OCC Overview

        使用Tessent Shell，可以在设计中生成和插入Tessent OCCs。在ATPG控制下，配置OCC可生成可编辑时钟脉冲，除此之外，可以连接TK/LBIST混合控制器到Tessent OCC上，OCC具有捕获-使能触发和外部时钟控制的能力。

      在这种情况下，Tessent OCC的使用确保满足以下要求：

• ATPG对每个时钟域进行独立控制，来提高覆盖率，减少pattern的数量，以最小的用户干预实现安全计时。
• 在捕获期间，在每一个pattern基础上传递正确的脉冲数。
• 在移位时钟和捕获时钟之间进行精确切换。
• 在捕获期间使能slow或者fast时钟（功能时钟），为了应用slow和全速pattern（在capture期间，如果进行slow pattern测试，则使能slow_clock）。
• 在wrapped core内生成Scan-programmable 时钟波形以此来在core level中产生pattern，这些patterns可以重新定位到top level中，并合并以同时测试多个core，而不会在每个core中的时钟控制方式存在矛盾（？）。

Tessent on-chip clock control方法，适用于所有时钟域在内部的设计，如果也存在external clocks然后必须划分transition ATPG为两个单独的sessions：一个session为了external clocks，一个session为了internal clocks。

Primary OCC Functions

通常OCC控制器有三个主要的功能：

Clock Selection

        选择使用always-capture或者always-pulse时钟

        基于频率、测试类型和其他标准选择时钟

Clock Chopping Control

        Scan-programmabe移位寄存器控制时钟脉冲删除

        为时钟选通创建使能信号

Clock Gating

        选通时钟基于clock chopping 使能信号

        默认情况下，Tessent OCC包括一个内部时钟选通器（OCC内部存在clock gater），在生成步骤，该选项可被disabled，当设计已经包含时钟选通器时，可以生成具有时钟使能信号的Tessent OCC。

        当具有时钟使能的Tessent OCC被使用时，工具检测被OCC控制的时钟选通单元，该过程是自动的不要求用户输入。

通过使用kill_clock_mode OCC controller(会在OCC上添加一个控制信号)属性来re-use OCC内部的clock gater，在func mode期间使用该属性以kill功能时钟，比如，inactive cores。

On-Chip Clock Controller Design Description

有三种类型的OCC设计，st