2020年10月_小鱼电子

12月 11月 10月 09月 08月

原创话机通话声音大伴随噪声处理经验案例

1、问题现象1：两话机通话过程中，当呼叫方说话声音大时，收听方听到话音质量还原失真，且伴随有嗡嗡噪声。2：通话过程中，声音低时正常。2、调试经验图表5SLIC原理架构图如图表1，GEWV2.3L22A-B2设计架构中，电话口编解码由LE88266处理，然后通过PCM-4总线传输到DSP(BCM63293)，DSP进行数据处理。2.1分析因素分析存在故障机器特性，可以初步怀疑模拟信号转数字信号以及数字信号处理有关。我们采用2分法来处理问题。1：PCM-4近端环回...

2020-10-29 20:58:44 1002

原创 GEWV2.3L22A-SLIC烧坏问题经验案例

1、问题现象1：话机无馈电；2：SLIC芯片LE88266芯片温度高；2、调试经验图表1SLIC原理架构图如图表1，GEWV2.3L22A-B2设计架构中，电话口编解码由LE88266处理，然后通过PCM-4总线传输到DSP(BCM63293)，DSP进行数据处理。图表2LE88266升压原理图图表二为SLIC升压原理架构，LE88266通过控制buck-boost电路的开关，得到VBATL与VBATH.2.1分析因素1：话机无馈电分析：用万用表...

2020-10-26 20:20:51 875 2

原创 CPU热测试_经验案例

1、现象样机（裸板）开机后，在不运行任何功能的情况下，CPU表面温度可以达到100度以上，对比相同方案的其他样机，温度只有60度左右，相差约40度。2、调试经验2.1故障分析1、外置1V电源导致；2、CPU硬件设计有缺陷。2.2解决措施1、对同样芯片方案的ZTE F612样机进行测试，裸机开机后不运行任何功能，CPU表面温度在60度左右，F612用的内置电源，本机采用外置电源；2、用本机的第一版样机，也是采用内置电源，进行测试，开机后CPU表面温度也又只有72度左右。因此..

2020-10-24 22:37:27 1378

原创千兆以太网RE设计指导

1、原理图设计在容易产生RE问题的相关网络上保留整改用的器件等，比如：在保证产品正常工作的前提下，在CLK上串接电阻；对地并接电容；在网络变压器的中间抽头对地并接至少2个电容；以便针对不同频点进行分别抑制；在以太网差分对靠近网络变压器端对地并接电容；不使用的器件管脚一定要做处理；（PD、PU or NC）等等。2、PCB设计1)严格按照IC方案的PCB设计指导进行设计，2)优先CLK走线，尽量少VIA，与其他信号线间保持3W规则，GMII/RGMII尽量在电...

2020-10-22 22:15:10 2260

原创百米网线打流fail经验案例

1、现象GGNV7.6R75A-B2 在做百米网线打流测试时会丢包（丢包率约10-7）。2、调试经验2.1故障分析测试网口眼图，没有问题；测试25MHz晶振输出信号频偏，频偏满足芯片规范；测试PHY芯片部分的供电电源纹波，结果均满足要求；根据之前经验网口次级端的TVS管对打流测试有一定影响，将DUT网口次级端的TVS管全部去掉后测试，没有丢包。查看TVS管规格书，漏电流典型值为20uA，将此问题反应给TVS管厂商，厂商建议采用另外一款漏电流较小的TVS管（漏电流典型值仅为1uA）再次测试，.

2020-10-21 21:47:07 889

原创 F612现网上电后光模块工作异常分析报告

1、失效原因分析前期分析：针对现网返回来的设备，我司研发人员在南研所进行测试，发现F612在上电后出现LOS不亮，测试光模块的的VCCR电源电压异常，存在反复的跌落情况；测试光模块的RXSD脚，存在SD电平置低后迅速置高的情况；如下图1所示，南研所得初步结论：我司光模块在上电过程中，因启动电流大使VCCR电源降低，使光模块启动过程中断，进行复位重启，形成周期性反复，周期为20多ms。图1经过南研所现网整改，将与光模块VCCR相连接的供电电感换成0R电阻，就可以恢复正常。如下为分析报告。

2020-10-20 21:47:40 1436

原创 EPON OLT光模块RSSI问题分析报告

1、EPON OLT光模块概述OLT光模块在工作时，下行采用广播方式连续发送数据流，每个ONU都能接收到OLT的信号，而不管这个信号是否是给它自己的，因此在下行方向OLT的发送是连续的，ONU的接收也是连续的。由于上行采用TDMA的复用方式，每个ONU只在允许自己发送的时间段才能发送数据，因此在上行方向上，ONU的发送是突发的，OLT的接收就要求是突发工作的，所以OLT光模块的接收有严格的时序要求。EPON OLT的结构框图如下：发射部分，采用NT25L90驱动1490nm的DFB激光器；接收部分.

2020-10-19 22:35:35 3783 1

原创 BL235XX系列静电问题经验案例

1、现象烽火F2G，B5E,B5,HG260G几个项目同时爆出静电问题，耦合板6KV，光模块、USB接触6KV都会将CPU打死。语音出现啸叫断线等问题。2、调试经验2.1分析因素1：Reset信号走线2.1.1故障分析B5E 的语音出现啸叫，很明显是打了静电后，SLIC芯片收到干扰，导致工作不正常，查找SLIC信号，发现SLIC_RESET 信号是由CPU GPIO36输出，此信号复位SLIC后应该处在一个高电平位置，但是量测到此管脚信号只有2.2V左右，移除R134；此信号输出为...

2020-10-16 21:17:00 1010

原创 AR9331标准电路设计归纳

1、QFN焊盘开孔目的：解决双排QFN封装地焊盘焊接问题双排QFN封装的AR9331在我司生产情况一直不佳，返修概率大，究其原因，大多数情况是因为接地不良。反观TP样机，QFN接地焊盘处有开孔，探讨过后认为，增加开孔可以优化接地上锡情况，避免出现虚接地情况。孔的直径为40mils，开孔大小一般为接地焊盘面积的10%~15%，再大就影响接地面积，其他QFN封装的，需看实际接地面积，如实际接地面积大，也需开孔，像6410和60321这类芯片，接地焊盘小，就没有必要开孔。开孔后，需在孔位周围增加一圈通孔，

2020-10-15 21:26:53 1750

原创 APD保护电路优化设计

1、APD特性介绍光模块接收端使用的APD光组件主要的工作机理是在一般的PN结区加了一个反向偏置的强电场，使得入射光产生的光生载流子在进入电场区时获得能量做高速运动，与原子晶格碰撞电离出新的电子—空穴对，该过程反复多次后使载流子发生雪崩式倍增，达到增强接收端性能的目的，它的特性曲线如图1.1。图1.1 APD特性曲线可以看出在红色区域的增益区间内偏压越大，同等入射光下的APD的光生电流越大，目前常用APD组件的正常工作时偏压通常设置为Vbr－3~6V，范围大多在30~50V之间，如此高的电压

2020-10-14 21:52:30 6164 2

原创 AP699GE9C2.CW159-8项目技术经验总结

1、自测试满载温升超出客户要求1.1问题描述在进行满载温升测试的时候，上壳根据客户的温升计算公式FAIL，在28.2环境温度下，上壳外表面温度44度才能PASS，实测温度为50.9度；超标6.9度。1.2产生原因该款产品，为客户ID；为了把整机尺寸做小，所以采用了PCBA倒置的组装方式， PCBA下表面与面壳内表面之间的距离为3.5mm，因此会导致面壳温度较正常组装方式要高很多。（正常PCBA正置的情况下，PCBA上表面与面壳距离最小11mm，面壳温度不会超限；下表面与底壳内表面之间距离..

2020-10-13 21:00:02 505

原创 P61天线组装&终测问题分析

1、现状发现ANT1的焊接（组装）出现问题，这给客户对产品的认识有一个极不好的印象。ANT1错误焊接、组装ANT1正确焊接2、分析：天线cable 线靠近天线本体，会造成天线的S11参数变化，天线谐振点偏移，最终造成吞吐量测试时信道不均衡，高信道，或者低信道吞吐量异常偏低，或者跑一会流量后，吞吐量跌落。3、暴露出的问题问题1：组装站天线的焊接、SOP不完善，检验不严格。问题2：F2站终测站的标准存在问题——没能卡出来因为此类不当操作而造成性能降低的样机。...

2020-10-12 21:59:39 309

原创 10G SR光模块取消ER调试可行性分析

1、背景对于10G SR光模块，目前消光比调节采用的是TW100 1G速率下调试，而终测使用的是2100示波器10G速率下测试，这样会有以下几个误差因素，A TW100消光比本身探测误差B TW100与2100设备之间的测量误差C 1G速率下与10G速率下实际消光比误差10G SR采用的是交流驱动，只有IBIAS对其光功率做贡献，目前我们调试便是使用的开环下调IBIAS来调光功率，然后调IMOD调ER。在ER和P固定的情况下，IMOD是可以通过I...

2020-10-11 20:40:38 1067

原创 10G BIDI串扰问题分析及解决方案

1、问题产生背景在10G BIDI项目测试过程中，发现告警会偏晚甚至不告警，进一步发现在不装壳时的模块告警（LOS-A），去告警（LOS-D）正常，灵敏度（SEN）也会提高，而在装壳后有的模块的告警和去告警会偏晚，还有的模块甚至是不告警，灵敏度也会普遍降低。2、问题分析以及定位模块在装壳前后接收端的三个指标表现出来的异常，初步怀疑是接收端受到发射端的串扰导致。为了验证这一猜想，我们将装壳的模块上电后，通过手调软件将发射关断，接收端的三个指标均有比较明显的改善，基本上和不装壳时的指标一致。...

2020-10-10 20:38:20 1084

原创 PON BIP8问题分析

1、问题描述现网同一PON下挂多台样机（32台以上），个别样机出现下行BIP 8 Error告警，2、问题定位分析过在送样50台样机中共发现8台样机存在BIP Error问题，同批次样机存在一定不良比例，定位个体差异引起并非必现设计问题。2.1验证环境影响将问题样机在同一个OLT环境下，改变光路衰减，在有效功率范围内，告警频率随功率变大而减小；在不同OLT环境下部分样机告警取消，但还是有6台样机持续告警，确认样机本身有问题。第一验证结论，环境影响BIP告警，但样机存在问题。.

2020-10-09 22:39:17 2876