芯片测试 l

1.题目描述:

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

2.输入

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。

3.输出

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1

0 1 0

1 0 1
样例输出
1 3

4.解题思路

由题意可知好的芯片的个数一定比坏的芯片个数多，因此我们可以得出总会有一半以上的芯片显示正确结果。

#include <iostream> 
#include <stdio.h>
#include <string>
#include <string.h>
#include <algorithm>
#include<ctype.h>
#define maxn 250
using namespace std;
int main() 
{
int n,a[21][21];
int b[20];
memset(b,0,sizeof(b));
cin>>n;
for(int e=0;e<n;e++){
	for(int f=0;f<n;f++){
		cin>>a[e][f];
	}
} 
//好芯片：a[i][j]==a[j][i]&&[i][j]==1&&a[j][i]==1
for(int i=0;i<n;i++){
	for(int j=0;j<n;j++){
		if(i!=j&&a[i][j]==a[j][i]&&a[i][j]==1) 
	
		b[j]++;
	}
} 
for(int w=0;w<n;w++){
	if(b[w]>=n/2) cout<<w+1<<" ";
	//好的比坏的多 加等号的原因：例如输入为3行3列的例子
}
}


例如输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
 
输出 1 3
解析：例如第一列 1 0 1  相当于所有芯片对1号芯片进行测试  好的比坏的多 所以测试结果对于
好的芯片的1 一定大于n/2