书籍:《炬丰科技-半导体工艺》
文章:马兰戈尼干燥过程中晶圆接触痕污染处理方法
编号:JFKJ-21-282
作者:炬丰科技
硅晶圆在马兰戈尼干燥过程中接触痕污染严重与晶片与接触区域的保水有关在晶圆/夹持片上形成保水性 接触是用概念模型来处理的。一个技术提出了采用毛细管引流的方法来解决接触问题 。
书籍:《炬丰科技-半导体工艺》
文章:马兰戈尼干燥过程中晶圆接触痕污染处理方法
编号:JFKJ-21-282
作者:炬丰科技
硅晶圆在马兰戈尼干燥过程中接触痕污染严重与晶片与接触区域的保水有关在晶圆/夹持片上形成保水性 接触是用概念模型来处理的。一个技术提出了采用毛细管引流的方法来解决接触问题 。