DC中插dft时的set_dft_signal设置

set_dft_signal 是在设计中用于指定设计可测试性（Design for Testability, DFT）信号的一条命令。它在集成电路设计中，尤其是在 DC 综合（Design Compiler）阶段用于处理扫描测试的信号。我们可以通过这条命令定义与测试相关的信号类型和用途，如扫描使能（Scan Enable）、扫描时钟（Scan Clock）等。

这条命令的作用解释：

• -view spec：表示这是在 specification（规范）视图 中指定的 DFT 信号。在综合过程中，DC 将根据这个规范来处理 DFT 信号。

• -port SE：这里的 SE 是指 Scan Enable（扫描使能）的端口名，通常用于在测试模式下控制扫描链的使能。这个端口指定了哪个信号是扫描使能信号。

• -type ScanEnable：这个参数明确指出 SE 是一个 Scan Enable 信号，用来控制扫描链何时处于活动状态。

• -usage {scan clock_gating}：这个选项指定了 SE 信号的用途。scan 表示这个信号在扫描测试中使用，而 clock_gating 则表示这个信号还与 时钟门控 有关。在扫描测试过程中，时钟门控通常用于降低功耗。

具体使用场景：

1. 在 DFT 插入阶段：在扫描链被插入之前，你需要告知工具哪些信号是 DFT 相关的。例如，哪些信号是扫描时钟，哪些是扫描使能。这时 set_dft_signal 就会被用来标识这些信号，以便在综合或插入 DFT 时正确处理。

2. 扫描测试模式的实现：Scan Enable 信号用于在扫描测试模式下控制数据移入和移出扫描链。在这个模式下，SE 信号决定是否启用扫描链，而 Clock Gating 会在需要时关闭不必要的时钟以节省功耗。

3. 时钟门控与扫描：在设计中，有时会结合时钟门控来优化功耗。此时 SE 端口的 usage 中设置了 clock_gating，这意味着工具会理解该扫描使能信号不仅仅是用于测试模式，还涉及到时钟门控的控制。

使用时机：

• 在 综合前或综合过程中，你可以使用 set_dft_signal 来告诉综合工具如何处理 DFT 相关信号，以确保设计的可测试性。
• 如果你在综合后进行 DFT 插入，也可以在这个阶段使用此命令来指定扫描相关的信号类型。

具体操作步骤：

1. 插入扫描链之前：在 DFT 插入之前定义扫描信号，告诉工具哪些信号是扫描时钟、扫描使能等。

2. 执行 DFT 插入：基于这些定义，工具可以将扫描链正确插入到设计中，并处理时钟门控等问题。

3. 综合时用来优化功耗：当工具知道某个 Scan Enable 信号和时钟门控相关时，综合工具可以相应优化设计，在扫描测试模式下减少功耗。

总结：

set_dft_signal 是在 DC 综合过程中 为 DFT 插入做准备的关键命令。具体来说，当你在定义测试相关的信号，如扫描使能和时钟门控信号时，它就会被使用。这个命令有助于工具正确地处理 DFT 信号，并在后续插入扫描链的过程中确保功能和功耗优化。