DFT下release的sdc讨论

DFT下release的sdc主要包括三部分：

1、shift_sdc：

主要是检查scan_chain上寄存器q到si的timing情况；同时还要注意edt_logic和scan_chian之间的时序关系；channel_in/out或者wrap_cell_input/output的接口处的timing；处理的难点也在EDT和chain之间存在半周期收敛，即在shift_mode的时候，一正一负或者一负一正，存在setup只有半周期的slack，hoid的却有一个周期的slack，后期一旦setup出问题，只能降频。

Timing的处理方式：scan_chain上采用eco打拍（场景：跨时钟域时候，Q到si，Tessent工具会自动加lockup_latch_cell（向后借time）处理由于clk_skew过大导致的hold问题，同时还要考虑异步时钟分叉点过早，ocv影响，导致setup窗口被吃掉，对于大于100M的shift来说窗口更小，更危险，所以一般都是单时钟域收敛；稳妥解决办法：在edt_clock处加一个dummy_icg逻辑（E和SE恒1）使得cts的可长可短，解决setup问题。

对于带IP的模块，考虑ip内部的shift_timing是否和外部一致？ip_chain一般都固定好了，只能ip_chain_family处理；无法和外部同时去clk_domain，工具会报error）；（场景：模块的规模可能很大，位置是畸形摆放，根据实际的pr位置来决定是否对链首链尾打拍或者链中间打拍，或者只针对违例的chain打拍）

edt逻辑内解压缩和压缩逻辑打拍（采用reg_cell，而不是lockup_latch_cell）；edt到DFT逻辑打拍；latch到edt逻辑打拍；

寄存器和mem之间的打拍：根据项目经验一般对弈mem_clk大于800M的，在bist_data_in处打拍；

特殊情况，有些sram可能支持内部数字寄存器上chain测试，会留有si和so的pin；吃tcd自动上chain，就不要打拍处理了；但是注意有些sram的address_pin不一定能用内部的chain去shift和capture，所以为了提高覆盖率还是需要单独加一些hold_observe_cell去观察。

寄存器的rst，icg_gate，组合逻辑的gate，在shift时候都是确定值，所以不需要check时序；

shift时，没有进chain的寄存器不需要检查时序；

特殊机构：对于子系统模块的而言：还会出Flat_sdc，也要保证时序clean，此时需要注意：对于no_partion或者no_wrap的模块，其OCC 切换在顶层，本模块没有，只能用func_clk来驱动，也可以保证模块内部shift_timing收敛，但是从flat角度，即顶层来看，在一块出向量的时候，shif下由于flat dft_test_clk和func_clk的latency不一致，导致时序问题可能再次出现。解决办法：在模块级直接采用one_clk_Mux的方式，只用dft_test_clk，保证flat下模块级shift_timing完全收敛。但是mux带来的delay相对高频时钟来说很大，后端不一定能接收。

channel_in/out或者wrap_cell_input/output的接口处的timing：

一般channel_in/out分为内外部两部分：模块内指channel_in/out到edt的打拍，一般采取chan_in的第一级和chan_out的最后一级打拍pipie-reg_cell靠近端口排放，其余等距摆放；模块外指chann到Top的复用pad的路径，同样si的第一级和so的最后一级打拍pipie-cell靠近输入输出pad摆放，其他等距摆放。同时模块内的pipecell的时钟树尽可能的短。以上经验可以保证timing收敛更高，以及测试时间成本更小。

wrap_cell_input/output同理上述。

对于test_point（hold_cell型，clk来自dediceta_occ（快慢时钟都是silow_clk），rst来自ijtag_rst）来说：对于控制点，没有timing的影响，因为控制点触发器在捕获周期中捕获自己。 set_case_analysis control_point_en 0 确保：1.源触发器的保持路径不会放松；2.从源触发器到下一个SI引脚的扫描路径也不会放松

如果要在高速测试期间使用观察点observe_reg，那么它们必须满足从数据来源点开始的single_cycle_timing。在STA期间，用作“observe_point_en”的信号将不受约束，以允许STA工具检查这些单元的捕获和转移路径的时间。

如果在高速AC测试期间没有以满足观察点的单周期timing，则必须在ac_ATPG期间禁用该路径，通过使用“add_input_constraints observe_point_en -C0”。

由于sta和pr工具的操作方式不同，在STA期间使用“set_case_analysis”来防止检查给定路径上的计时，这将阻止Place and Route工具在同一路径上fix_timing。在慢速dc期间，这些单元格的保持路径必须满足timing要求，因此，应该使用set_false - setup - to <所有观察点flops>”

特殊：eco_chain的时序：为防止后期eco再次加入func_reg，这些reg进入eco_chian（一般设置多条，每条上有 1-2个dunmmy_reg）上时，需要打拍（latch）缓解hold问题。

如何书写shift_SDC：

creat_clock [get_ports name ] -add -period -waveform -name 

set_clock_groups -async -name ijtag -group {ijtag_tck}

set_input_delay  -clock ijtag_tck {ijtag_reset ijtag_ue ijtag_ce ijtag_si  ijatg_sel }

set_ouput_delay -clock ijtag_tck {ijatg_so}

set_input_delay -clock tessent_virtual_force_pi {dft_scan_en dft_edt_updata *edt_chann_in* *wrapoc_si* }

set_input_delay -clock tessent_virtual_fmeasure_so {*edt_chann_out* *wrapoc_so* }

set_case_ana 1 rst_muxout_pin

set_case_ana 1 {ltest_en dft_scan_en all_test atpg_mode rst_sel}  注释：atpg_mode是icg_ip中mode选择信号，有多种mode选择控制Icg开关，控制功耗；rst_sel也是rst_ip的控制方式选择。

set_case_ana 1 */occ/test_mode_reg/Q

set_case_ana 0 inject_tck_mux_sel

set_false_path *cgc_SFIFT_REG_CLK/*

set_false_path cgc_fast_clock/*

set_multicycle_path -setup 2 -from *tessent_sib*/to_enable_int*

set_multicycle_path -hold 2 -from *tessent_sib*/to_enable_int*

set_multicycle_path -hold 1 -from  edt_contro/low_pwr/low_power_hold_reg*

set_multicycle_path -setup 3 -through *edt_scan_out_buf/in  -through  *edt_scan_in_buf/in

set_multicycle_path -hold 2 -through *edt_scan_out_buf/in  -through  *edt_scan_in_buf/in

特殊的scan_mode_add的一些特殊信号：set_case_ana 

2、dc_capture_sdc：

主要是检查q到D的时序，dc_scan_capture采用slow_clk；存在多个clk_group的（port_clk或者occ_gen_clk）；同时存在和功能下相同的clk下的setup multicycle_path可以放松，但是若存在一正一负的情况，setup只有半T，没法放松；难点在于功能下的hold可以放松，但是dc_capture_mode下没法放松。

注意：setup 的timing一定是没有via的；hold_timing_via和func下基本一样多，若tycal or worst下的比func多，则有问题。

如何书写capture_SDC：

creat_clock [get_ports name ] -add -period $slow_period -waveform -name 

creat_clock [get_ports ijtag_tck] -add -period 40ns -name ijtag_tck

set_clock_groups -async -name ijtag -group {ijtag_tck}

set_clock_groups -async -name  dc_scan_async -group {func_clk bisr_clk div_clk scan_clk}

create_generated_clock [get_pins ] -divde  -source -master -name -comb

set_input_delay  -clock ijtag_tck {ijtag_reset ijtag_ue ijtag_ce ijtag_si  ijatg_sel }

set_ouput_delay -clock ijtag_tck {ijatg_so}

set_multicycle_path -setup 2 -from *tessent_sib*/to_enable_int*

set_multicycle_path -hold 2 -from *tessent_sib*/to_enable_int*

clk来自上述clk_group：

set_multicycle_path -setup 2 -rise_form  -rise_to 

set_multicycle_path -hold 1   -rise_form  -rise_to 

set_multicycle_path -setup 2 -fall_from -fall_to

set_multicycle_path -hold 1 -fall_from -fall_to

set_multicycle_path -setup 2 -fall_from -rise_to

set_multicycle_path -hold 1 -fall_from -rise_to

set_multicycle_path -setup 2 -from tessent_virtual_force_pi -to clk

set_multicycle_path -hold 1  -from tessent_virtual_force_pi -to clk

set_multicycle_path -setup 2 -from clk -to tessent_virtual_measure_po

set_multicycle_path -hold 1  -from clk -to  tessent_virtual_measure_po

set_input_delay -clock tessent_virtual_force_pi {func_clk bisr_clk dft_scan_clk ijtag_tck bisr_si ijtag_* }

set_input_delay -clock tessent_virtual_fmeasure_so {bisr_so ijtag_so }

set_case_ana 0 dft_scan_en  dft_burn_in 

set_case_ana 1 ltest_en all_test

set_multicycle_path -setup 2 -from dft_edt_updata dft_pad_reset

set_multicycle_path -hold 1  -from dft_edt_updata  dft_pad_reset

set_multicycle_path -hold 1 -from  edt_contro/low_pwr/low_power_hold_reg*

set_multicycle_path -setup 3 -through *edt_scan_out_buf/in  -through  *edt_scan_in_buf/in

set_multicycle_path -hold 2 -through *edt_scan_out_buf/in  -through  *edt_scan_in_buf/in

set_case_ana 1 */occ/test_mode_reg/Q

特殊的scan_mode_add的一些特殊信号：set_case_ana 

3、mbist_func_sdc：

将tessent工具在mbist_gate下吐出来的mbist_sdc和func_sdc merge在一起减小sta_mode的种类，收敛mbist时序。

相当于dft_ac_capture的时序，除带iP的模块，存在bypass_dft_专有高频时钟，需要单独声明async_clk_group在sdc中。

但是容易出现假path，无法辨别是否。

注意：为防止occ_chain_reg时序出现问题，一般ocC的逻辑在pr时摆放在一起，保证occ内部的cts尽可能的短，以至就可以忽略时序问题。

对时序敏感的部分，DFT 会出cell.list抓取报告提供给pr,并指导摆放原则。

对于mem高频时序紧张问题，一般采用pr给的mem_group作为指导文件来分controler来做测试电路。