DFT学习(一)：DFT概述和ATE概述

已于 2023-08-08 23:45:05 修改
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分类专栏： 数字IC 文章标签： DFT IC 集成电路
于 2023-08-08 22:57:50 首次发布
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一、什么是DFT?

  • DFT(Design for Test)，即可测性设计

  • 一切为了芯片流片后测试所加入的逻辑设计，都叫DFT。

  • DFT只是为了测试芯片制造过程中有没有缺陷，而不是用来验证芯片功能的。芯片功能的完善应该应该是在芯片开发过程用先进验证方法学去做的。

  • 芯片制造过程相当复杂，工艺缺陷难免会存在，DFT的目的就是从制造完成的芯片里挑出有缺陷的芯片，以免有缺陷的芯片到了客户于上，造成更大的经济和时间损失。

二、测试的重要性

在某层测试上漏掉了一个有故障的芯片，可能在下一层测试上需要花费10倍的cost才能发现它，所以，需要依赖DFT技术尽可能早的发现有故障的芯片。
在这里插入图片描述

三、测试的主要目的

主要目的是确认芯片没有问题，问题来自两个方面：设计与制造

功能性问题：

  • 仿真
  • 验证
  • 功耗时序问题:
  • EDA分析辅助

工艺库问题：

  • 工艺库不准确，
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