如何提高 224 Gbps 测试系统的信号完整性（第 1 部分）

 

 

多年来，Samtec 一直在分析射频设计优化技术，以提高高频测试应用中的信号完整性，并继续在 224 Gbps 测试系统初步发现的基础上继续发展。在这篇博客中，即“如何提高 224 Gbps 测试系统的信号完整性

”系列的第 1 部分，我们将研究从测试仪器到被测设备 (DUT) 提高信号完整性的几个关键原则。这些原则在 Samtec 最近发表的论文中有所概述：高达 100 GHz 的边缘、倾斜和垂直射频连接器的实际用例（感谢 Sandeep Sankararaman、Shawn Tucker、Istvan Novak 和 Gustavo Blando 的辛勤工作！）。在本系列的第 2 部分中，我们将提供一个框架，用于为高频测试应用选择合适的同轴连接器。我们还将回答在研究高性能测试的 SI 原则时收到的常见问题。
 

与此同时，让我们回到第 1 部分。

关键原则

提高从测试仪器到被测设备 (DUT) 的信号完整性 

• 了解要使用哪种连接器类型（我们将在第 2 部分中详细讨论这一点）
• 去除焊料，改用压缩安装连接器（在此处阅读摘要和完整的白皮书） 
• 尽可能使用同轴电缆组件（如 Bulle Eye）：虽然可能无法使用 PCB 接口处的典型校准标准进行校准，但电缆的较低损耗使去嵌入算法能够更干净地移除电缆（与 PCB 走线相比） 
• 将同轴连接器尽可能靠近被测设备(DUT)
• 确保测试夹具在电气上是透明​​的，并且不会影响正在进行的整个测量带宽的测量结果
• 正确地将测试夹具从被测设备去嵌入到设备的端口
• 尽可能缩小发射通孔结构的横截面尺寸，并考虑采用允许每个层转换都有微通孔的每层互连 (ELIC) 技术，从而实现高密度布线并提高截止频率，以改善发射带宽 
• 始终牢记，发射设计的首要目标是将高阶模式传播的频率移至远高于目标带宽。截止频率受发射区域的尺寸和介电常数的强烈影响。  

请注意，出于本博客的考虑，上述要点中存在大量过度简化。如需深入了解这些主题，请参阅 Samtec 发表的论文：高达 100 GHz 的边缘、倾斜和垂直射频连接器的实际用例。 

结论 

 

已发表论文中的主题（以及上面强调的几点）将允许通过采取整体方法去嵌入到尽可能宽的带宽。整体方法对于需要高带宽（例如 224 Gbps 测试）的测量尤其重要。许多执行 224 Gbps 特性分析的工程师的目标是 70 至 90 GHz 范围内的测试带宽。 

最后但并非最不重要的是，完全可以设计出适用于 224 Gbps 设备的测试夹具，而无需使用特殊技术。