tessent mbist setting

已于 2024-05-24 17:50:31 修改
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文章标签： perl
于 2024-04-30 11:17:00 首次发布
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memory group setting

get_memory_instance_options [get_memory_instance [list \
                                                    ]
                            ] -physical_cluster_override mem_grp

default SPEC setting

set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/max_steps_per_controller 2
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/max_memories_per_step    4
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/max_power_per_step       500
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/max_test_time_per_controller    500ms
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/ControllerOptions/algorithm    SmarchCHKBvcd
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/ControllerOptions/extra_algorithms [list SMARCH]
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/ControllerOptions/comparator_location per_interface 
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/MemoryInterfaceOptions/observation_xor_size    8
set_defaults_value    DftSpecification/MemoryBist/MemoryInterfaceOptions/scan_bypass_logic    sync_mux

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### 回答1： Tessent MBIST User Guide是一个关于Tessent Memory Built-In Self Test（MBIST）软件的用户指南。这个软件是由Mentor Graphics公司开发的，主要用于芯片设计中的集成电路自检测。这个指南提供了一个详细的使用说明，包括了该软件的主要功能和特点，以及用户如何使用和配置该软件来优化集成电路的测试。Tessent MBIST可以帮助设计师更容易地检测芯片中的故障，提高芯片的可靠性和稳定性。该软件还提供了多种测试模式，包括逻辑模式和随机模式等，以帮助用户更好地测试不同类型的集成电路。在使用该软件时，用户需要遵循一些基本的指南，如如何设置测试向量、如何选择不同的测试模式等。总体而言，Tessent MBIST User Guide是一个非常实用的指南，它可以帮助芯片设计师更好地理解和使用Tessent MBIST软件，从而提高芯片的可靠性和性能。 ### 回答2： Tessent MBIST User Guide是一本使用手册，它介绍了Tessent MBIST工具的使用方法,并提供了关于如何在电路设计过程中使用MBIST (Memory Built-in Self-Test)技术的细节。MBIST技术可以用来测试电路中的内置存储器（SRAM, ROM等）是否正常工作。 这个手册提供了用户需要的所有信息，包括如何使用Tessent MBIST 工具，如何设置测试模式，如何编写和运行测试程序等。它还介绍了如何分析测试结果和进行故障排除。 另外，Tessent MBIST User Guide还提供了有关如何使用该工具来减小测试时间和测试芯片的功耗。通过使用该工具，用户可以高效地测试电路，同时减少测试成本和时间。 总之，Tessent MBIST User Guide是一个非常实用的手册，能够帮助电路设计人员快速学习和使用MBIST技术，从而提高测试效率和电路品质。 ### 回答3： Tessent MBIST User Guide 是一份关于硬件测试的用户手册。Tessent MBIST（Memory Built-In Self-Test）是一种内置式自测试技术，可用于测试集成电路的存储器单元，如SRAM、DRAM和ROM等。 该用户手册详细介绍了Tessent MBIST与其他测试技术的对比和优势，如其高效、可靠、灵活和可重复使用等。手册中还介绍了Tessent MBIST的体系结构、设计流程、操作方法、文件格式和仿真模型等内容。 手册提供了详细的应用指南，包括测试场景的设置、仿真验证、测试覆盖率的评估和结果分析等。同时，手册还提供了许多实际案例，展示了Tessent MBIST在各种应用场合下的应用效果。 总之，Tessent MBIST User Guide 是一个全面而详细的硬件测试指南，有助于工程师了解、掌握和应用Tessent MBIST技术，提高集成电路的测试效率和质量。

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