集成电路版图设计(一)


前言

只会设计电路而对版图设计没有详细的认知是不行的,因此开始学习版图知识。
以下记录都是来自于B站博主的视频的PPT,对其进行了翻译注释,方便学习了解。


提示:以下是本篇文章正文内容,下面案例可供参考

一、版图设计的介绍

介绍

集成电路或单片集成电路(也被称为IC、芯片或微芯片)是在半导体材料(通常是硅)的一个小平面上的一组电子电路。大量微小的mosfet(金属氧化物半导体场效应晶体管)集成到一个小芯片中。
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数字电路和模拟电路布局的要求

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数字电路杂乱无章,主要关注面积。
模拟电路要充分考虑匹配、寄生,所以看着比较规整。
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流片过程

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OPC技术(光学邻近矫正)

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数字集成电路设计流程

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模拟集成电路设计流程

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绘制版图需要的
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二、MOS管的流片流程

MOS管尺寸指数

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1P4M芯片构成

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流片工艺立体图

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流片的简单过程

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三、流片的实际设计过程

1、N阱光刻

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2、氧化层刻蚀

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3、N阱注入

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4、氮化硅奠基

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5、有源区光刻

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6、氮化硅光刻

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7、生产场氧层

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8、薄的栅氧化层生长

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9、多晶硅注入做奠基

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10、栅极光刻

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11、多晶硅刻蚀

进行多晶硅刻蚀,就可以留下我们需要的栅极部分,并最后洗掉光刻胶
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12、形成源漏区准备

在形成源漏区之前,要进行衬底接触的设计,以保证后期电位的上拉和接地。
先涂一层光刻胶。
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13、N+光刻

添加掩膜版进行光照,空缺的部分被去除,其余部分得到了保留。
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14、N+注入

全范围N+离子注入,只有刚才光刻去除的部分可以打入,其余部分都被挡住,不会进行注入,至此,便形成了N+的衬底接触。从右上角图可以看到版图的平面结构示意图。
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15、N+区完成

在N+完成注入后,清除掉多余的光刻胶,便要开始进行之后的源漏区设计。
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16、P+区光刻

为了实现PMOS,我们需要在N阱内进行P+的离子注入来形成PMOS的源漏区,同样涂上光刻胶,然后用一块新的掩膜版进行光刻(至此已经用了5块掩膜版)。
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17、P+区注入

全范围P+离子注入,没有被光刻胶隔离和栅极多晶硅隔离的部分可以直接P+注入。
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18、P+衬底形成(注入完全)

至此,在清洗掉光刻胶之后,栅源漏都形成,还有衬底接触部分,也就是B。
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19、奠基厚的氧化层做绝缘处理

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20、接触光刻

为之后的金属柱做准备,需要做Contact连接处理,涂上光刻胶,然后用新的掩膜版进行光照,中间空余的部分被留下
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21、厚的氧化层光刻

光照后,就会在光刻胶上留下我们之后准备注入金属的孔洞
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22、注入金属钨

在孔洞内注入金属钨当Contact,至此就将我们的四个电极,即源级S 漏极D 栅极 G 衬底B分别引出了。
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23、金属一层光刻

从版图中可以看出,四个端口的外围都有了金属一·边界
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24、金属一层刻蚀

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25、金属一互联

得到了PMOS管
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26、多层金属互联的立体结构

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四、实际案例

1、CMOS晶体管的横切片图和版图

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2、设计规则技术

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3、DRC检查和LVS

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4、Post Simulation

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五、软件仿真的一些简单步骤

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版图操作技巧
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什么是版图? 根据逻辑与电路功能和性能要求以及工艺水平要求来设计光刻用的掩膜版图,实现IC设计的最终输出。   版图是一组相互套合的图形,各层版图相应于不同的工艺步骤,每一层版图用不同的图案来表示。 版图与所采用的制备工艺紧密相关。   版图设计就是按照线路的要求和一定的工艺参数,设计出元件的图形并进行排列互连,以设计出一套供IC制造工艺中使用的光刻掩膜版的图形,称为版图或工艺复合图。   版图设计是制造IC的基本条件,版图设计是否合理对成品率、电路性能、可靠性影响很大,版图设计错了,就一个电路也做不出来。若设计不合理,则电路性能和成品率将受到很大影响。版图设计必须与线路设计、工艺设计、工艺水平适应。版图设计者必须熟悉工艺条件、器件物理、电路原理以及测试方法。   作为一位版图设计者,首先要熟悉工艺条件和器件物理,才能确定晶体管的具体尺寸。铝连线的宽度、间距、各次掩膜套刻精度等。其次要对电路的工作原理有一定的了解,这样才能在版图设计中注意避免某些分布参量和寄生效应对电路产生的影响。同时还要熟悉调试方法,通过对样品性能的测试和显微镜观察,可分析出工艺中的间题。也可通过工艺中的问题发现电路设计版图设计不合理之处,帮助改版工作的进行。特别是测试中发现某一参数的不合格,这往往与版图设计有关。   硅平面工艺是制造MOS IC 的基础。利用不同的掩膜版,可以获得不同功能的集成电路。因此,版图设计成为开发新品种和制造合格集成电路的关键。   1、手工设计 2、计算机辅助设计(CAD) 3、自动化设计   人工设计和绘制版图,有利于充分利用芯片面积,并能满足多种电路性能要求。但是效率低、周期长、容易出错,特别是不能设计规模很大的电路版图。因此,该方法多用于随机格式的、产量较大的MSI和LSI或单元库的建立,也用于复杂的模拟集成电路设计
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