去掉scan pattern多余port的方法

背景：对数字芯片进行scan chain测试时会有两种方式，一种是CP测试，一种是FT测试。CP测试可以理解成封装前裸die的测试，FT测试是封装后整颗芯片的测试。想要在FT测试时对数字芯片做scan chain的测试，就需要把多余的port删除。因为不会把所有的数字部分的电路port封装出来。

处理方法：

1.首先，需要具备的文件：.SPF文件（DC综合生成的）；网表文件（PR后的.V）；spfgen.pl文件(Synopsys安装包里面可以找到/tools/Synopsys/txs_vl-2016.03-sp2/auxx/syn/tmax)。

2.然后，修改网表文件，一般数字PR后的网表包含很多PORT，这时需要修改成只保留与scan的相关port。修改方法：新建一个module只保留scan相关port，然后例化pr后网表的top层，其余port悬空。如下图：

修改前的网表：

修改后的网表：

3.此时做tmax时，run_drc会出错，因为网表改掉后与.spf文件对应不上，所以需要相应的修改.spf文件.手动修改会很累，需要借助脚本进行修改。此时spfgen.pl就起到了作用。

4.先建立一个配置文件，比如说config.txt ，配置文件中需要说明remove掉了哪些port，如：

INPUT_SPF ../../pr/xx.spf

OUTPUT_SPF out.spf

REMOVE_PORT i_input0

REMOVE_PORT i_input1

REMOVE_PORT i_input2

REMOVE_PORT i_input3

REMOVE_PORT i_input4

REMOVE_PORT i_input5

REMOVE_PORT i_input6

...

5.运行 spfgen.pl config.txt则会生成一个新的out.spf文件。

6.用修改后的网表和新生成的.spf文件做tmax，就会得到没有多余port的stil或wgl文件。

7.下图是有多余port和仅有scan相关port的文件对比