Scan chain提高覆盖率

跑完tmax后，会出来一份这样的报告，首先需要看懂这份报告。

其中覆盖率的计算是DT和UD的faults除以total的faults.如图（57244+144）/58628=97.8338%.和报告相对应。

官方的计算公式如下：（PS: 有点复杂，看不太懂）

这不是重点，重点是要搞清楚各个faults的含义，即DT，PT，UD，AU，ND都代表什么？

使用命令：

set_faults -summary verbose

run_atpg -auto

可以查看更详细的fault分类：

1. DT ：

DS 

DI

2.PT  ：

AP 

NP

3.UD

UU

UO

UT

UB

UR

4. AU

5.ND

NC

NO

使用命令write_fault xxx -class au 输出有哪些au的电路，方便用来进行debug。

--代表与前面的fault等价.

故障等价：（PS：这个还没有理解是什么意思）

最后想要提高覆盖率一般的操作方式是：

1.将数字部分的输入用mux切到寄存器的输出。

2.数字部分的输出尽可能少的mux到固定值。

3.将数字部分组合逻辑的输出放到寄存器中，DC综合时将这个寄存器设置为don‘t touch。

另外再对scan 仿真debug时，由于一般生成所有pattern时，仿真会很慢，为了debug我们只需要看几个pattern，tmax在生成pattern时用命令

write_patterns  ./xxx.stil -format stil -serial -replace -first 0 -last 3

即从pattern0 开始生成3个pattern，这样debug起来会很快。