20120828mbist释义

概念：

BIST：Build-In Self Test, 内建自测。

是设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。

BIST技术大概分为两类，LogicBIST和MemoryBIST。前者多用于测试随机逻辑电路，使用伪随机测试码生成器来产生输入；后者只用于存储器测试。

比较少见的还有ArrayBIST(专用于嵌入式存储器的自测), AnalogBIST等。