S32K144 Systick 中断调试进不去

S32K144 Systick 中断调试进不去

最近在调试 NXP 的 S32K144芯片， 使用 S32DS IDE 。

由于之前一直使用ST系列的芯片，一直使用的是Keil, 所以上手没有陌生感。

（ PS: 也将工程移植至KEIL,代码跑起来了，具体注意细节点，再出个文档说明。）

在调试SYSTICK 中断，初始化函数如下

void SysTick_Init(void)
{

    uint32_t core_freq = 0u;
    
    /* Get the correct name of the core clock */
    clock_names_t coreclk = CORE_CLK;
    
    status_t clk_status = CLOCK_SYS_GetFreq(coreclk, &core_freq);
    
    DEV_ASSERT(clk_status == STATUS_SUCCESS);

    DEV_ASSERT(core_freq > 0u);

    (void)clk_status;

    /* For Cortex-M0 devices the systick counter is initialized with an undefined
     value, so make sure to initialize it to 0 before starting */
    S32_SysTick->CSR = S32_SysTick_CSR_ENABLE(0u);
    S32_SysTick->RVR = S32_SysTick_RVR_RELOAD(core_freq / 1000u);
    S32_SysTick->CVR = S32_SysTick_CVR_CURRENT(0U);
    S32_SysTick->CSR = S32_SysTick_CSR_ENABLE(1u) | S32_SysTick_CSR_TICKINT(1u) | S32_SysTick_CSR_CLKSOURCE(1u);

}

上述初始化函数，是从 void OSIF_TimeDelay(const uint32_t delay);截取出来的，按道理根据经验初始化之后，就能进入 void SysTick_Handler(void);

然而，在此中断打断点调试并没有进入。

随后，尝试改变代码的优化级别,改成不优化（ -O0）

编译下载，debug中，能运行到systick_handler的断点处，为了进一步了解是不是因为优化的问题导致该处不能调试，又重新将优化级别改成 -O1，再次调试，又能进中断了。