什么是电源芯片启动延时？如何测试？电源芯片测试系统如何助力？

　　电源芯片的启动延时是指电源芯片的上电信号从输入到输出所需的时间，通俗的来讲就是电源芯片启动时的输入波形与输出波形之间的时间差，由于芯片的启动延迟都是毫秒级的，所以在测试芯片启动延时时需要采集输出与输入的波形来进行计算延时时间。

启动延时=输出上升时间-输入上升时间

　　电源芯片的启动延时主要受三大因素影响：设计工艺、工作电压以及环境温度。那么测试芯片启动延迟也需要从这几个方面入手。对于普通企业来说，设计工艺和极端温度条件下的测试基本没有必要，设计工艺对延时启动的影响比较小，除非是需要精准度极高的芯片，因此在日常测试中我们只需要关注不同电压下的芯片启动延时即可。

　　芯片启动延时测试步骤如下：

　　1. 首先我们需要先确定芯片的输入电压范围，输入电压范围的测试可以查看我们往期的文章进行学习了解。

　　2. 确定好电压范围之后，可以根据自身企业的需求确定单个或多个测量点(比如：某芯片的输入电压范围为9V~12V，可以选择9V、12V这两个测量点)

　　3. 使用电源给芯片输入9V的电压，同时使用示波器的2个通道分别测量芯片的输入与输出电压波形，抓取芯片输出与输入的上升波形。

　　4. 在示波器上选择2个通道的波形，计算出2个波形上升稳定后的延迟时间，这个时间即是9V时芯片的启动延时。

　　5. 后续使用电源输入12V的电压，重复3-4的步骤即可测试出12V是芯片的启动延迟。同样的如果你需要采集多个点的启动延迟，也可以按照上述方法操作即可。

　　该方法适用于少量芯片和少量测试点，如果需要测试大批量或连续多点位的测试则可以选择使用ATECLOUD电源芯片测试系统进行自动化测试，芯片测试系统会更加用户提前设置好的参数自动化配置测试，无需人工手动调整，测试完成后可以直接导出测试报告，针对芯片设计和生产的大批量测试场景十分适用。

　　使用ATECLOUD测试芯片的启动延时只需要在平台上搭建好启动延时的方案，连接好仪器之后，直接启动测试即可。测试结果可以在数据报告界面直接查看，测试多点位延时可自动调节参数，测试报告支持一键导出，数据分析可以集中展示，可以极大的提升企业的测试效率和精度。https://www.namisoft.com/Atecloud.html