数字电路硬件设计系列(三)之缓启电路设计


1 简介

        在一些大电压、大电流的产品中,上电的瞬间通常会有较大的电流冲击,下图是一款产品上电过程中波形。最大的电流达到14.2A,这种过流有可能损坏电子元器件。

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电流过充波形

解决上述问题,通常采取的策略是在电源的入口增加缓启动电路,也成为软起动缓启动就是电源缓慢开启,限制电源启动时的浪涌电流。

缓启动电路的目的主要有两个:

  • 延迟单元电源的上电时间;
  • 较小上电的冲击电流。

2 电路说明

        电路的主要组成部分包含了R1、R2、C1、Q1组成,通过简单元器件就可以使用缓启动功能。电源的输出是由PMOS的打开和关闭控制,缓启动的实质就是让PMOS管的打开的时间变得缓慢,此处我们采取的措施是在栅极和源极之间增加一个电容C1,是PMOS的导通时间变得缓慢。导通的时间于R1、R2、C1的参数是强相关的。

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缓启动电路

 下面就是有、无缓启动时,电压随时间变化的示意图:

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缓启动对照图

 从图中可以明显的看出,增加缓启动电路后,电压起来的时间周期更改,能避免上电过程中的冲击电流。

部分单板的电源需要外部的使能信号进行控制,可以新增一个三极管进行控制,具体电路

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带控制缓启电路

 3 原理图分析

 针对电容相关的计算公式

电荷量 = 电容容量 * 电容两端电压:

Q = C * U

电荷量 = 电流 * 时间

Q = I * t

因此:I = (CU)/t

分析:当电容容量越大,电压越高,时间越短,电流就会越大,从而形成冲击电流。

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缓启动电路

在缓启动电路中,电阻R1、电阻R2和电容C1构成分压式RC时间常数电路,,C1并联在Q1的GS极之间,也就是Vc1=Vgs。当12V电源刚加到单板时,C1未充电,Vgs=0,MOS不导通,电源模块不供电。随后,12V通过R1,R2向C7充电,当C1的电压达到Vth时,MOS开始导通,这一阶段,完成的是延时上电的作用.

4 参数设定

在电路的设计过程中,应该考虑三极管的参数,特别是ID通常裕量至少为30%。此处我们以FQD8P10TM-F085为例,不同温度下允许的电流不同。在25℃时,电流不能超过4.62A;100℃时,电流不能超过2.94A。否则MOS管可能会被烧毁。

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FQD8P10TM-F085规格书

 5 总结

  • 缓启动的时间常数电路必须确保电容充电完成后其电压不能大于15V,因为一般大功率MOS管的G,S间击穿电压在20V左右,电压过高,会损坏MOS管。
  • 缓启动的延迟时间不能太长

🗡延迟太长,热拔插时,单板接口信号线已连接,而电源仍未上电,会造成接口器件闩锁损坏;

🗡缓启动关键器件MOS管在从截止到导通转换的过程中瞬间功耗是非常大的,如果电容充电过于缓慢,造成边沿时间太长,MOS管将因为功耗过大而损坏。延时一般取几十毫秒。

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数字IC设计是指基于数字电路原理和设计方法,使用数字逻辑门电路和存储元件构成的集成电路设计过程。硬件电路验证是指验证设计的数字IC电路在实际硬件平台上的可靠性和性能。 数字IC设计涉及到电路的逻辑功能和性能的考虑。在设计过程中,需要进行多个层次的设计和验证。首先,进行逻辑设计,即确定电路的功能和逻辑关系。其次,进行电路设计,确定电路的具体元件和连接方式。最后,进行布局设计和物理验证,确保电路的布局合理且满足性能要求。 硬件电路验证是设计流程中至关重要的一步。通过验证,可以检测和排除电路中的设计错误、故障和性能不足等问题。验证的方法主要包括仿真和实物验证。仿真验证是通过软件模拟器进行电路功能和性能的验证,可以在设计阶段快速验证设计的正确性。实物验证是将设计电路布板制成实物电路板,并进行实际测试,这样可以更加准确地验证电路的性能和功能。 数字IC设计硬件电路验证的目标是确保设计电路在实际应用中能够正常工作。通过综合利用先进的设计工具和验证方法,可以提高数字IC设计的准确性和可靠性,降低设计的风险和成本。同时,合理的硬件电路验证过程可以提高设计的效率和质量,确保设计电路满足需求并达到预期的性能指标。

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