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时序分析
如何查看时序报告
（DC） report-timing
时序分析的分类和任务
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STA静态时序分析
分析门级网表的拓扑结构，计算所有通路的传输延迟，生成有向无环图。但有可能检查了无效路径，从而生成错误虚假的违例警告。
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DTA动态时序分析
基于电路的行为级、门级、开关级模型进行动态仿真。依赖于激励源，有可能漏掉关键路径，漏报时序违约。
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两者对比
STA DTA 方法 仿真 路径分析 激励源 不需要 需要 覆盖率 与激励源无关 与激励源有关 风险 警告错误 丢失警告 最大最小分析，与综合配合 可 不可 内存占用 小 大 运行时间 快 慢 -
任务
- 建立时间约束
- 保持时间约束
- 脉冲宽度约束
- 时钟偏移（clock skew）约束
- 时钟周期约束
HOLD违例修复：
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hold违例一般可在后端修复，前端可以忽略！
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Synopsys 方法
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two-pass综合
在排版前，用worst-case lid编译设计，获得最大setup-time,在layout后用best-case lib对设计再映射，从而修正hold-time，这个方法稳定性好。
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Single pass 综合，通过DC命令
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Set_fix_hold
指示DC在采用CLK做时钟的电路合适的位置插入buffer或置换数据路径的cell而修正hold-time。在设计进行layout信息反标之后，用reoptimize _design命令修正hold-time,在layout之前，采用“compile –incremental”命令修正hold-time。
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reoptimize _design命令
支持min_max同时分析和优化；反标layout tool提供的min和max延时；用set_fix_hold 修正hold-time；
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人为插入delay
对于少于10-20处的hold-time 违例，可人为插入delay，一般都是通过加入一串连续的buffer,但因为buffer间距离过近，总的延时由buffer的cell延时决定，连接延时很小从而造成延时不足以修正hold-time。解决的办法是将多个高fanin 的门连结在一起，利用fanin 电容比单输入的buffer大，增加延时。
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用DC命令自动插入延时
用于hold-time 违例较多，用IPO费很多时间，对时序报告使用的script语言（perl 或 Awk)做语法分析，获得时序分析失败路径setup-time 的slack和hold-time的违例。根据这些结果，对失败路径，用户生成disconnect_net,create_cell,connect的DC命令，指示DC在合适的位置插入buffer.
SETUP违例修复：
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可以考虑关键路径上的逻辑并行化（重排部），减少链路延时。
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可以考虑有些功能电路的更优设计以降低延时，比如，超前进位加法器比行波逐位进位链加法器的延时更短。
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关键插入寄存器，形成流水线（pipline）。
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FPGA中可尝试：将数据改为下降沿触发，提前半拍发数据增加余量。
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后端
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后端设计可以通过调整关键路径的时钟SKEW来解决，但是一般只是针对小范围的违例。
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可以采用多阈值单元，从半导体器件原理大家都知道，mos管阈值越小，其延时越小，可以在关键路劲采用阈值小的单元。
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可以采用面积更小的门级单元，面积大容载大，自然延时大（当然面积大的单元其驱动能力强）。
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可以通过适当提高工作电压来解决，电路的延时本质就是充放电的延时，如果电压越高，充放电时间就会越快。这也是为什么CPU超频时需要更高的工作电压。因此也可以通过提高关键模块的工作电压，划分不同的工作电压域。
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时序违例的修复
| 方案 | 作用 |
|---|---|
| 更换器件，调制器件尺寸(后端) | 减少器件延迟，改善建立和保持裕度 |
| 延长时钟周期(spec) | 在性能指标约束内消除时序违例 |
| 调制关键路径(后端) | 减少线网延迟 |
| 时钟树重新设计(后端) | 改善时钟偏移 |
| 更好算法、系统结构（前端） | 减少通路延迟 |
| 改变工艺(spec) | 减少器件和通路延迟 |
时序约束
约束的分类
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时钟约束
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IO约束
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时序例外约束
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虚假路径
不需要满足任何时序要求的路径，EDA忽略该路径的时序
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多周期路径
需要多个周期来传输数据的路径，EDA放宽该路径的时序
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最小延迟和最大延迟
当有对最小延迟和最大延迟有特殊要求（与setup、hold约束的推测值不同）时指定
时序约束的作用
- 在综合中
- 优化：面积、功率、性能约束
- 输入重排序：传达各种输入信号的到达时间
- 输入缓冲：传达外部输入的驱动能力
- 输出缓冲：传达输出端口需要驱动外部负载的信息
- 在STA中
- 约束作为声明：工具不验证准确性和正确性
- 约束作为断言：检查，若不满足约束认为时序违例
- 约束作为指令：综合、布局布线时工具根据约束识图满足目标
- 约束作为异常：指定某些路径，允许更为宽松的时序
SDF文件
Standard Delay Format：标准延时格式文件，描述各种延迟约束。
SDC：新思公司的SDF文件
XDC：Xilinx公司的SDF文件，两者格式大致相同
OCV
OCV（On-chip-Variation），片上变化，OCV（on-chip variation）是指在同一个芯片上, 由于制造工艺和环境（PVT）等原因导致芯片上各部分特征不能完全一样，从而造成偏差，对时序分析造成影响。这些偏差对互联线和cell的延时都是有影响的。
由于OCV对延时有影响，那么我们在进行时序分析时需要将这些OCV效应考虑进来。在STA中，通过对不同的时序路径添加derate系数，来完成对OCV的建模，将OCV效应纳入分析。
PVT
PVT也称为Operating condition，分别是Process工艺，Voltage电压，Temperature温度，有下列组合
- WC：worst case slow，低电压，高温度，慢工艺 -> 一般情况下delay最大，setup 差。
- WCL：worst case low-temperature，低电压，低温度，慢工艺 -> 温度反转效应时delay最大，setup差。
- LT：即low-temperature，也叫bc（best case fast），高电压，低温度，快工艺 -> 一般情况下delay最小，hold差。
- ML：max-leakage，高电压，高温度，快工艺 -> 温度反转效应下delay最小，hold差。
- TC：typical，也叫tt，普通电压，普通温度，标准工艺 -> 各种typical。
- BC：Best case。高电压，快工艺，常温0℃ or 25℃。
- 注：温度反转效应（Temperature Inversion Effect）
- 工艺在90nm以上的时候，随着温度的升高，delay增大，所以worst corner是PVTmax，
- 是65nm以下，随着温度的降低，delay增大，worst corner可能是PVTmax,也可能是PVTmin，这就是温度反转效应。
- 温度对Transistors的影响：低温时，迁移率增大(导致快switching趋势)，但是Vt增大(导致慢switching趋势)，最后结果取决于迁移率和Vt谁起更重要作用（65nm以下制程主要是Vt起作用，90nm以上主要是电子迁移率）。
- 温度对寄生参数的影响：低温时，wire电阻更低。
共同路径悲观效应(CPP)
如下图，common clock path即属于launch clock path，也属于capture clock path，所以在计算中，我们对其使用了不同的derate系数进行计算：在计算arrival time中，系数为1.2；在计算required time中，系数为0.9，这样会让我们的分析更为悲观，电路性能更差。而在真实的情况中，common clock path的PVT只有一个，不可能同时有两个derate系数，所以我们会进行CPPR操作。
CPPR（Clock Path Pessimism Removal）或者CRPR(Clock Reconvergence Pessimism Removal)，中文名“共同路径悲观去除”。它的作用是去除clock path上的相同路径上的悲观计算量，即我们上面提到的问题。我们将common point定义为时钟树上共同部分最后一个cell的output pin。则定义CPP因子为：
//同一时钟，一段按最快路径（clk->B）计算，一段按最慢路径(clk->A)计算，导致约束过于悲观。可声明公用部分，修正补偿延迟差异，称为“时钟网络悲观效应降低”
+-----+ ***** +-----+
| +---** C1 *---+ |
| F1 | ***** | F2 |
| | | |
+-+>A | |----+>B |
| +-----+ | +-----+
| |
. .
/_\ /_\
| |
clk | |
----------+-----------------+
setup time与hold time和什么有关
https://blog.csdn.net/FBICIACCC/article/details/52683901
直观而言，SETUP要求数据要比时钟“走得快”，HOLD则防止采到的新数据太快到达而“冲掉”原来的正确数据，数据必须要在一定时间之后才允许到达。
数据跑得越快（TDelay越小），时钟传输时延越大（clock skew越大）对建立时间的满足越有利，而对保持时间的满足越不利，相反则对满足保持时间越有利，对满足建立时间越不利。
建立时间还跟时钟周期有关系，时钟周期越小，越容易发生建立时间违例，而保持时间则跟时钟周期没有关系。
clock Jitter与clock Skew
- clock Skew（时钟偏移）指同一时钟到达不同寄存器的时间偏移。一般由于时钟路径的长度，负载，驱动有关。在上例中，clock skew体现在
T
c
l
k
_
p
a
t
h
T_{clk\_path}
Tclk_path中。
- 定义为到达后级寄存器的时间减到前级寄存器的时间，从公式可以看出，正skew（clk2晚于clk1）对建立时间有益，负skew（clk2早于clk1）对保持时间有益。
- clock Jitter（时钟抖动）指时钟源的频率不确定。一般由于晶振，电源，温度变化引起。clock jitter始终对电路性能造成负面的影响。
- 时钟约束中，clock uncertainty = clock jitter + clock skew。
setup和hold裕度计算
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setup
T d a t a _ p a t h + T s e t u p < = T c l k _ p a t h + T p e r i o d T_{data\_path}+T_{setup}<=T_{clk\_path}+T_{period} Tdata_path+Tsetup<=Tclk_path+Tperiod
变形： T s e t _ s l a c k = T p e r i o d − （ T c q + T l o g i c ） − T s e t u p + T s k e w > 0 T_{set\_slack} = T_{period} -（T_{cq}+T_{logic}）- T_{setup} + T_{skew}>0 Tset_slack=Tperiod−（Tcq+Tlogic）−Tsetup+Tskew>0
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hold
T d a t a _ p a t h − T h o l d > = T c l k _ p a t h T_{data\_path}-T_{hold}>=T_{clk\_path} Tdata_path−Thold>=Tclk_path
变形： T h o l d _ s l a c k = T c q + T l o g i c − T h o l d − T s k e w > 0 T_{hold\_slack} = T_{cq}+T_{logic}-T_{hold} - T_{skew} > 0 Thold_slack=Tcq+Tlogic−Thold−Tskew>0
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举例
T d a t a _ p a t h = 2 + 11 + 2 + 9 + 2 = 26 n s ; T c l k _ p a t h = 2 + 5 + 2 = 9 n s ; 26 + 4 > 9 + 15 T_{data\_path}=2+11+2+9+2=26ns;T_{clk\_path}=2+5+2=9ns;26+4>9+15 Tdata_path=2+11+2+9+2=26ns;Tclk_path=2+5+2=9ns;26+4>9+15
setup违例
T d a t a _ p a t h = 1 + 9 + 1 + 6 + 1 = 18 n s ; T c l k _ p a t h = 3 + 9 + 3 = 15 n s ; 18 − 2 > 15 T_{data\_path}=1+9+1+6+1=18ns;T_{clk\_path}=3+9+3=15ns;18-2>15 Tdata_path=1+9+1+6+1=18ns;Tclk_path=3+9+3=15ns;18−2>15
hold无违例
总结：计算setup时数据路径延迟取最大，时钟路径延迟取最小；计算hold时相反
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