EPC发布GaN可靠性最新消息

第16阶段可靠性报告增加了关于热机械磨损机制和过电压指南的知识

EPC已宣布发布其第16阶段可靠性报告,记录了使用故障测试方法的持续工作,并增加了过电压规范的具体指南,提高了热机械可靠性。

据该公司介绍,与第15阶段可靠性报告相比,该版本提供了扩展的数据和分析。现在,它包括对给定应用程序主要关注的磨损机制的总体概述。本版本报告的新内容是描述如何在结合实质性和次要压力时期的现实任务概况中预测系统的可靠性。

关于热机械磨损机制和过电压指南的重要新材料包括研究模具尺寸和凸块形状对温度循环(TC)可靠性的影响。本报告还包括对GaN晶体管的栅极和漏极的过电压鲁棒性的研究。

本报告分为以下几节:第1节:使用测试到失效方法确定磨损机制,第2节:利用测试到失效结果预测系统中的设备寿命,第3节:磨损机制,4节:任务特定可靠性预测,包括太阳能、DC-DC和激光雷达应用,以及第5节:总结和结论。

EPC首席执行官兼联合创始人Alex Lidow表示,“我们第16阶段报告的发布满足了对GaN器件可靠性进行持续研究的关键需求。该报告提供了关于任务稳健性的宝贵见解,确保器件满足各种应用的需求。”

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