功能覆盖率的写法

0、功能覆盖率：一方面可以证明验证点的覆盖，另一方面是服务于随机场景，如果你在场景中可以构造全遍历场景，则功能覆盖率不一定是必须；

1、标准写法见绿皮书

2、工作用见到的一种非正规写发，但是可以用（不推荐）

cross_p ：cross wr_p，addr_refion_p
{
    bins mst_pbar_rd_paddr = binsof(wr_p.read_b)&&binsof(addr_refion_p.paddr)
    bins mst_pbar_wr_paddr = binsof(wr_p.write_b)&&binsof(addr_refion_p.paddr)
}

        优点是：可以指定一个覆盖点中的一个仓和另外一个覆盖点中的一个仓进行交叉，但是不是绿皮书推荐写法，暂不提倡。

3、收集覆盖率可以使用vcs、ius两种工具，vcs对应的覆盖率分析工具是dve，ius对应的覆盖率分析工具是imc；

• dve的打开方式是；dve -full64 ./simv.vdb/ &
• 其中vdb文件是跑出来的覆盖率收集结果文件

4、rst信号的采集，一般rst功能点收集包含：高电平、低电平、0到1、1到0；二次复位情况下需要对电平持续时间进行判断，见绿皮书：P266，常见写发如下：

• bins sec_rst = （0=>1[*1:9000000]=>0[*1:9000]=>1）;