电路抗干扰原理及应用（1）

电路抗干扰原理及应用（1）

干扰源介绍

干扰源：测量过程中，除待测量信号外，各种不可见的、随机的信号可能出现在测量系统中，这些信号与有用信号叠加在一起，严重扭曲测量结果。

• 机械干扰：由于机械振动或冲击，使检测装置中的元件发生振动、变形，使连接线发生位移，使指针发生抖动。声波的干扰类似于机械振动，从效果上看，也可以列入这一类。抗机械干扰主要采用减震措施，如减震弹簧、减震橡皮垫等。
• 热干扰：工作时，检测系统产生的热量所引起温度波动和环境温度的变化等引起检测电路元器件参数发生变化，或产生附加的热电动势等。
• 光干扰：检测系统广泛采用半导体元器件，半导体材料在光线的作用下会激发出电子空穴对，使半导体元器件产生电势或引起阻值的变化。抗光干扰主要采用光屏蔽，如将对光敏感的半导体元器件用不透光的屏蔽罩包围起来。
• 温湿度变化干扰：湿度增加会使元件的绝缘电阻下降，漏电流增加，高值电阻阻值下降，电介质的介电常数增加，吸潮的线圈骨架膨胀等等。抗湿度干扰主要采用密封防潮措施，如将电气元件印刷电路板浸漆、环氧树脂封灌和硅橡胶封灌等。
• 化学干扰：如酸碱盐及腐蚀性气体会通过化学腐蚀作用损坏检测位置。抗化学干扰主要采用良好的密封和注意清洁。
• 电磁干扰：电和磁可以通过电路和磁路对检测系统产生干扰作用。电场和磁场的变化也会在有关电路中感应出干扰电压。电磁干扰对于检测系统来说是最为普遍和影响最严重的干扰。
• 射线辐射干扰：射线会使气体电离，半导体激发电子空穴对和金属逸出电子等。因此，用于原子能、核装置等领域的检测系统尤其要注意射线辐射干扰。

干扰途径介绍

噪声：各种干扰在检测系统的输出端往往反映为一些与检测量无关的信号，这些无用的信号称为噪声。噪声通过一定的途径侵入检测装置才会对测量结果造成影响。干扰的途径有“路”和“场”两种形式。凡噪声通过电路的形式作用于被干扰对象的，都属于“路” 干扰。如通过漏电流引入的干扰。凡噪声通过电场、磁场的形式作用于被干扰对象的，都属于“场”干扰。如通过分布电容、分布电感引入的干扰。
干扰途径：

• “路”干扰

  • 漏电流耦合形成的干扰：由于绝缘不良，电流经绝缘电阻的漏电流所引起的干扰，经常发生在下列情况中：

    • 当用传感器测量较高的直流电压时；
    • 在传感器附近有较高的直流电压源时；
    • 在高输入阻抗的直流放大电路中。

  • 传导耦合形成的干扰：噪声经导线耦合到电路中去是最明显的干扰现象。当导线经过有噪声的环境时，即拾取噪声，并经导线传送到电路而造成干扰。如经电源线引入的噪声。
    

  • 共阻抗耦合形成的干扰：共阻抗耦合是由于两个电路共有的阻抗，当一个电路有电流流过时，通过共有的阻抗便在另一个电路上产生干扰电压。如几个电路由同一个电源供电时，会通过电源内阻互相干扰，在放大器中，各级放大器通过接地线电阻互相干扰。
    

• “场”干扰

  • 静电耦合形成的干扰：电场耦合实质上是电容性耦合，它是由于两个电路之间存在寄生电容，可使一个电路的电荷变化影响到另一个电路。如图，为两根导线1、2之间通过电容性耦合形成的干扰。图中：$C_{12}$-导线1、2间的分布电容，$C_2$、$R_2$-导线1对地电容、电阻, U N 1 U_{N1}