电容老化失效测试解决方案

在手机，通讯，以及汽车，航空等领域，对于电路板的寿命和使用温度均有着特殊的要求，因此对于电容也有着特殊的要求，例如使用寿命，耐高温程度等；而在众多的测试中，可靠性测试是必不可少的一项。虹科出品-电容可靠性测试系统，在模拟各种电容极端使用场景，例如高热高湿和长时间通电的情况下，具有电流通道实时监控和自动断路保护功能，实现规模可以高达万片电容的自动化测试。

本文介绍的这个系统主要用于电容老化测试，通过给电容施加电压，同时施加高温和高湿的环境，来加速电容的老化，测试电容的可靠性。系统采用模块化设计，支持通道扩展，并且针对每一个电流通道都单独实现监测和控制断开的功能，保证系统在其中某一个电容失效（短路）的时候不影响其他的通道。系统适合进行大规模的测试，一次的测试容量可达几万片，因此采用了多电源供电的方式，可选的电源扩展规模，能支持多路电源，即在一次测试中可以配置不同的通道供电电压不同，从而实现了同一次长时间加热加湿的过程中测试多种规格的电容。极大提升测试效率。目前该系统已经成功交付，并用于实际的生产应用中，如果您有类似需求，欢迎和我们进一步沟通。ltt@hkaco.com

主要功能

1. 系统主要用于电容的老化测试
2. 系统提供高低温和湿度环境。
3. 系统支持一次测试中提供多组可调电压值，且每一路电压可以程控输入到任意一组电容上。
4. 系统可以实现对每一路的电流进行监控，当电容失效电流超限时可报警或者自动断开该路，不影响其他路的测试。