TetraMAX ATPG的基础整理

数字IC新人小白

已于 2022-03-19 17:04:10 修改

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分类专栏：数字IC漫漫长夜文章标签： verilog

于 2022-03-19 17:00:48 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/qq_34882285/article/details/123519603

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本文介绍了TetraMAX ATPG的基本概念，包括自动测试向量生成、故障模型和主要的故障分类。重点阐述了Basic ATPG的设计流程，从准备网表到分析测试覆盖率，并详细描述了构建ATPG模型后的处理过程，如特殊模拟原语的插入和设计规则检查。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

测试图形的自动生成(Automatic Test-Pattern Gneration, ATPG)

确定最小的一组激励向量，能覆盖由所采用的故障模型定义的故障集中足够多的部分。

常用算法D算法和PODEM算法

个人理解就是工具中的算法根据设计故障（Faults）仿真计算出一系列pattern（0/1数据），这一系列的pattern可以快速检测芯片在实际生产过程中出现的问题（如由于加工原因导致的短路，断路等）。

主要的fault分类

DT——Detected

PT——Possibly Detected

UD——undetected

AU——ATPG Untestable

ND——Not Detected

Basic ATPG运行脚本

set_messages -log mylog -replace
# Read in the netlist library and
# Verilog library 标准单元库文件和设计文件
read_netlist -library library/*.v
read_netlist design.v
# Build the ATPG Model
run_build_model DESIGN_TOP
# Set up and run DRC建立并运行DRC
set_drc stil_procedures.spf
run_drc
# Add faults and run ATPG 加入故障并运行ATPG
add_faults -all
run_atpg -auto
# Write the patterns 写入pattern
write_pa