TetraMAX ATPG的基础整理

测试图形的自动生成(Automatic Test-Pattern Gneration, ATPG)

确定最小的一组激励向量，能覆盖由所采用的故障模型定义的故障集中足够多的部分。

常用算法D算法和PODEM算法

个人理解就是工具中的算法根据设计故障（Faults）仿真计算出一系列pattern（0/1数据），这一系列的pattern可以快速检测芯片在实际生产过程中出现的问题（如由于加工原因导致的短路，断路等）。

主要的fault分类

DT——Detected

PT——Possibly Detected

UD——undetected

AU——ATPG Untestable

ND——Not Detected

Basic ATPG运行脚本

set_messages -log mylog -replace
# Read in the netlist library and
# Verilog library 标准单元库文件和设计文件
read_netlist -library library/*.v
read_netlist design.v
# Build the ATPG Model
run_build_model DESIGN_TOP
# Set up and run DRC建立并运行DRC
set_drc s