IC带状线测试方法介绍-辐射发射和辐射抗扰度

本期聊下频率范围覆盖更广的IC带状线测试方法，该方法是从空间电磁场的角度进行的设计，分为辐射发射测试和辐射抗扰度测试，主要作为TEM小室法的频率扩充替代，涉及的IC EMC国际标准如下（见图1）：

• IEC 61967-8：IC带状线辐射发射测试

• IEC 62132-8：IC带状线辐射抗扰度测试

图1 IC EMC标准列表

TEM小室法覆盖的频率范围最大到3GHz，而IC带状线覆盖的频率范围最大到 6GHz 或 8GHz ，不同供应商的带状线产品的参数指标有差异，然而现有的标准 IEC 61967-8 和 IEC 62132-8只要求到3GHz（见图2），后续标准修订应该会进一步扩展频率。

图2 IEC 62132-8标准截图

当然，如果仅仅是关注频率，那还有频率也很高的GTEM小室，这三者之间的差异性有以下几点供大家讨论：

1. 频率：TEM最大3GHz，GTEM可达18GHz，IC带状线8GHz。

2. 设备本身的体积：由大到小依次为GTEM>TEM>IC带状线。

3. DUT的尺寸限制：以商用产品的规格举例，TEM小室的DUT限制在60mm L*60mm L*10mm H，IC带状线的DUT限制在30mm L*30mm L*3mm H，GTEM的限制尺寸最大。

4. VSWR：TEM和GTEM，标准要求<1.5，IC带状线<1.25

下面介绍下两个标准方法的测试布置图，见图3（发射）和图4（抗扰度），原理上都是将IC带状线结构作为电磁场耦合的媒介，然后分别作为电磁场的感应器和发生器，实现测量发射和施加干扰。

图3 IC带状线辐射发射测试布置图

图4 IC带状线辐射抗扰度测试布置图

最后展示几张市面上的成熟IC带状线实物图，让大家有个直观印象。