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本文篇幅较长,分为上下两篇,下篇详见基于印刷缺陷检测的嵌入式图像处理
3 PCB缺陷检测算法推理关键技术
本章将对硬件推理方案进行分析,从硬件特性和算法特性两个方面入手,并将其划 分成软件端和硬件端两个层面的任务。针对这两个层面,设计相应的函数和功能模块。 最后,对功能模块进行结构优化。
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本文篇幅较长,分为上下两篇,下篇详见基于印刷缺陷检测的嵌入式图像处理
本章将对硬件推理方案进行分析,从硬件特性和算法特性两个方面入手,并将其划 分成软件端和硬件端两个层面的任务。针对这两个层面,设计相应的函数和功能模块。 最后,对功能模块进行结构优化。