Woody_TT-CSDN博客

原创 LCD 驱动IC 灰阶电压的DEVITION 测试

GIP的测试相对简单。为保证面板的显示效果精确和一致性较好，就必须保证每根source的输出每阶电压都在SPEC范围内。3，deviation 测试：将没一根的ideal 值与其对应的灰阶offset值，求差与上下限比较。1，ideal 测试：检查每一根 PIN 每一阶source输出电压的是否符合Spec，如果有一根超出LIMIT .测试FAIL。DEVIATION TEST ： IC source输出电压的背离度测试，在每一灰阶下对于IC所有的source输出电压的差异。

2022-09-20 11:53:57 1232 1

原创 500 行perl 代码实现command转 IC 测试pattern _概述

在COB和模组阶段，AE所验证产生的测试pattern资料多为逻辑分析抓去的信号波形。高档的逻辑分析仪是可以存为VCD文档，大多数是只可以输出command文本指令。1，以TDDI驱动IC为例，大尺寸的IC通信接口多为mipi，IIC，SPI，80等。a，要有每行pattern的计数值，作为在机台中的pattern地址比较。有利于动态修改pattern。3，转出的pattern尽可能产生足够详细的注释可以与指令相互check。2，SPI要可以选择不同的mode。b，对每个bit的要有注释，利于检查。....

2022-07-22 18:15:26 725

原创 200行Perl 语言实现 VCD 转ATE测试pattern ---pattern的解析

前言：测试pattern是ATE机台能看的懂的语言。编译后会被存在机台memory中，由pattern generator电路来产生测试激励并在根据测试pattern中的输出脚做响应的比较。本文以advantest T6372的pattern来分析pattern的格式。其它家的pattern大同小异会有不同。Exmple :这是advantest T6372的一个完整的pattern。dicc.asc。以.asc结尾。如代码中；后面注释是对pattern中的一些指令和格式的说明。pattern中 0: 驱

2022-06-21 10:56:29 1501 2

原创 200行Perl 语言实现 VCD 转ATE测试pattern ---VCD的解析

*前言：VCD(Value Change Dump)，VCD和DVD没啥关系。是IC设计仿真时，由EDA仿真软件产生的一种波形存储文件。如下代码。*$date Wed Oct 20 15:04:11 2021 $end$version libsigrok 0.5.2 $end$comment Acquisition with 16/16 channels at 200 MHz$end$timescale 1 ns $end$scope module libsigrok $end$var

2022-05-16 19:28:35 962 2

原创 200行Perl 语言实现 VCD 转ATE测试pattern

*前言：*最近几年芯片行业大火，也带动了IC测试行业的发展。CP(Chip Probing)测试的复杂度和覆盖率也逐渐增加。RD给出的仿真测试（VCD文件），要转成ATE机台（ND2）能看得动的pattern（.asc文件），成千上万行的pattern看着头大。一般机台厂商会有自家的转换程序。秉着自己动手，丰衣足食的理念（主要是厂商的要钱），自己写。测试pattern在CP测试环节中，尤为重要。为IC输入提供不同的激励，对IC的输出响应状态与期望值进行比较，进行IC功能的分析。通俗的讲就是，IC有些参数上

2022-05-05 10:14:25 1207

原创 IC 测试时机台外灌时钟方式

IC 测试时机台外灌时钟方式总述：TDDI IC在内部会集成OSC，设计上会留出使用外部时钟的电路。有OSC_IN 和OSC_TE PIN。在ATE测试时，如果IC对时钟信号精度要求较高，可以对IC进行外灌时钟处理。现象：在机台debug 对IC寄存器进行读取时，机台抓取的波形抖动验证，有调整程式中，strobe的时间点无效果。进行外灌时钟。内部OSC 读取寄存器波形IC外灌时钟读取寄存器波形结论：ATE 机台外灌时钟读取，抓取波形跟加规整。波形发生器的 DC 部分将比较器的结果同 patt

2022-03-31 20:46:26 656

原创 ATE 测试及IC测试原理之 IDD测试

IDD IDD 的定义有很多，其中包括流过 Drain to Drain（CMOS D 极）的电流；Drain to GND 的电流；Drain 的 leakage 电流等等。普遍认为最符合实际的定义应该是：IDD 的测试分动态和静态两种电流，动态 IDD 是器件在正常工作时，Drain 对 GND 的漏电流，静态 IDD 是器件在静态时 Drain 对 GND 的漏电流。根据不同IC 测试时候,会分 sleepout_current sleepin_Current。以LCD驱动IC为例，除上两curr

2022-01-18 14:47:33 7449 2

原创 ATE 测试及IC测试原理之 leakage测试

Leakage测试的意义在于在 Open-Short 测试之后，对芯片的输入IO，进行漏电流测试。可以尽早发现IO结构问题。为接下来的功能测试做准备。Leakage 主要测试数字输入IO的漏电流测量IIH/IIL, PULL HIGH/PULL LOW。IIL测试：IIL是对IO进行驱动低电平(L)时测试输入IO(I)中的电流(I)， IIL测试测量从输入引脚到VDD的电阻。进行 IIL 测试时，首先电源端施加 VDDmax，所有的输入管脚通过 Pin Driver 施加 VIH 预处理为逻辑 1

2021-12-07 11:08:59 10866 4

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