ATE 测试及IC测试原理之 leakage测试

Leakage测试的意义在于在 Open-Short 测试之后，对芯片的输入IO，进行漏电流测试。可以尽早发现IO结构问题。为接下来的功能测试做准备。Leakage 主要测试数字输入IO的漏电流测量IIH/IIL, PULL HIGH/PULL LOW。

IIL测试：IIL是对IO进行驱动低电平(L)时测试输入IO(I)中的电流(I)， IIL测试测量从输入引脚到VDD的电阻。

进行 IIL 测试时，首先电源端施加 VDDmax，所有的输入管脚通过 Pin Driver 施加 VIH 预处理为逻辑 1 状态；接着通过切换将 DC 测量装置（如 PMU）连接到待测的管脚，驱动 低电平输入，测量其电流并与期间规格书中定义的 IIL 边界进行比较；完成后再切换到下一个待测引脚。这个过程不断重复直到所有的输入管脚均完成测试。
IIH测试: IIH是对IO进行驱动高电平电平(H)时测试输入IO(I)中的电流(I)，IIH测试测量从输入引脚到GND的电阻。

进行 IIH 测试时，首先电源端施加 VDDmax，所有的输入管脚通过 Pin Driver 施加 VIL 预处理为逻辑 0 状态；接着通过切换将 PMU 连接到待测的管脚，驱动高电平输入，测量其电流并与期间规格书中定义的 IIH 边界进行比较；完成后再切换到下一个待 测引脚。这个过程不断重复知道所有的输入管脚均完成测试。与 IIL 不同之处在于，IIH 测 试要求电压钳制，测试时要确认 VDD、Vin 及 IIL/IIH limit 等的设置正确。

一些特定类型的输入管脚会有上拉、下拉或其他的阻抗性关联电路。比如LCD IC中做mipi IO映射的BS和接口选择的 IM。会有弱下拉电阻进行。在pull up/pull down器测试原理和IIH和IIL相同。只是SPEC 会有差别。所以在程式中要先和RD确认好limit范围，一般pull up/pull down测试电流会稍大一点，因为MOS管电阻并上一个弱上下拉电阻，输入阻值会变小。

程式架构

Test_Num(3001,"Pull Down resistor/IIL ");
  mdc_set.Vsim( volt_io_vih[1],R8V,M8MA); 设置驱动压为逻辑1状态。
  mdc_set.LimitSet(1uA,-1uA); 设置SPEC测试的范围
  mdc_set.SetMeasIM(PL_PDWLeak,seq_im);
  mdc_set.ExecMeasIM();
	
  Test_Num(3002,"Pull Up resistor/IIH");
  mdc_set.Vsim(volt_io_vil[1],R8V,M8MA); 设置驱动压为逻0状态
  mdc_set.LimitSet(1uA,-1uA); 设置SPEC测试的范围
  mdc_set.SetMeasIM(PL_PUPLeak,seq_im);
  mdc_set.ExecMeasIM();