LCD 驱动IC 灰阶电压的DEVITION 测试

前言：LCD 的驱动IC有两种类型，一种是source driver和gate driver。一般都会集成在同一颗IC中。GIP的测试相对简单。通过逐行扫描的指令测试GIP 所有相关PIN输出电压值有没有达到VGH和VGL。source测试就会复杂许多，输出通道 PIN和阶数电压较多。为保证面板的显示效果精确和一致性较好，就必须保证每根source的输出每阶电压都在SPEC范围内。

DEVIATION TEST ： IC source输出电压的背离度测试，在每一灰阶下对于IC所有的source输出电压的差异。

1，ideal 测试：检查每一根 PIN 每一阶source输出电压的是否符合Spec，如果有一根超出LIMIT .测试FAIL。

2，offset 测试：在每一阶source输出电压值进行平均值是否符合Spec ,如果有一阶超出LIMIT。 测试FAIL

3，deviation 测试： 将没一根的ideal 值与其对应的灰阶offset值，求差与上下限比较。如果有一根PIN 的deviation测试fail。 测试项FAIL。

4,Peak to Peak 测试：LCD IC CP 测试时，gamma电压一般不会进行trim，所以不同IC 的ideal 值的电压，会有些差别。LIMIT 就会放很宽。会导致IC 出现同灰阶source的测试出现误判。
所以一般的Idel 测试后会加一个，peak to peak 的测试。同灰阶的所有source中的 MAX -MIN。LIMIT 50mV.
chop 前后的avg peak to peak 的测试。同灰阶的所有source中的 MAX -MIN limit可以在10mV以内。