前言:LCD 的驱动IC有两种类型,一种是source driver和gate driver。一般都会集成在同一颗IC中。GIP的测试相对简单。通过逐行扫描的指令测试GIP 所有相关PIN输出电压值有没有达到VGH和VGL。source测试就会复杂许多,输出通道 PIN和阶数电压较多。为保证面板的显示效果精确和一致性较好,就必须保证每根source的输出每阶电压都在SPEC范围内。
DEVIATION TEST : IC source输出电压的背离度测试,在每一灰阶下对于IC所有的source输出电压的差异。
1,ideal 测试:检查每一根 PIN 每一阶source输出电压的是否符合Spec,如果有一根超出LIMIT .测试FAIL。
2,offset 测试:在每一阶source输出电压值进行平均值是否符合Spec ,如果有一阶超出LIMIT。 测试FAIL
3,deviation 测试: 将没一根的ideal 值与其对应的灰阶offset值,求差与上下限比较。如果有一根PIN 的deviation测试fail。 测试项FAIL。
4,Peak to Peak 测试:LCD IC CP 测试时,gamma电压一般不会进行trim,所以不同IC 的ideal 值的电压,会有些差别。LIMIT 就会放很宽。会导致IC 出现同灰阶source的测试出现误判。
所以一般的Idel 测试后会加一个,peak to peak 的测试。同灰阶的所有source中的 MAX -MIN。LIMIT 50mV.
chop 前后的avg peak to peak 的测试。同灰阶的所有source中的 MAX -MIN limit可以在10mV以内。