IC 测试时机台外灌时钟方式

IC 测试时机台外灌时钟方式

总述：TDDI IC在内部会集成OSC，设计上会留出使用外部时钟的电路。有OSC_IN 和OSC_TE PIN。在ATE测试时，如果IC对时钟信号精度要求较高，可以对IC进行外灌时钟处理。
现象：在机台debug 对IC寄存器进行读取时，机台抓取的波形抖动验证，有调整程式中，strobe的时间点无效果。进行外灌时钟。

内部OSC 读取寄存器波形

IC外灌时钟读取寄存器波形

结论：ATE 机台外灌时钟读取，抓取波形跟加规整。波形发生器的 DC 部分将比较器的结果同 pattern 的期待值相比较， 以此来决定最终结果为 pass 或 fail。在 pattern 的期待值为 “L”的周 期里，比较器中 VOL 侧的结果就是最终结果；反之，在 pattern 的期待值 为 “H”的周期里，比较器中 VOH 侧的结果就是最终结果。
程式要求：
1，socket程式中 确认IC外灌时钟PIN，内部时钟和外部时钟一般的切换都有一个使能信号（OSC_TE ）和外灌时钟PIN（OSC_IN）。

2,对PIN的IO设置合适的IO类型，波形格式和timing。

	  SIGNAL_TIMING OSC_TE_timing;             
      OSC_TE_timing.pinlist( OSC_TE );           
      OSC_TE_timing.kind( IN );                
      OSC_TE_timing.option( HINIT );           
      OSC_TE_timing.wavekind( 0, NRZ );        
      OSC_TE_timing.timing( 1, T1, period );   
      OSC_TE_timing.timing( 1, T2, period2 );  
      OSC_TE_timing.Load();                                                                                        
      SIGNAL_TIMING OSC_IN_timing;             
      OSC_IN_timing.pinlist(OSC_IN);           
      OSC_IN_timing.kind( IN );                
      OSC_IN_timing.option( HINIT );           
      OSC_IN_timing.wavekind( 0, RZO );        
      OSC_IN_timing.timing( 1, T1, 0*period );   
      OSC_IN_timing.timing( 1, T2, 0.5*period );  
      OSC_IN_timing.Load();         

如果pattern中的OSC_IN是0, waveform使用RZOINV, 如果是1 waveform用RZO. RZO/RZOINV都是有兩个edge T1/T2, 分別代表上升沿跟下降沿, 通常都是T1:0PERIOD, T2=0.5PERIOD。