ATE 测试及IC测试原理之 OS测试

OS测试原理

1. Open-Short Test 也称为 ContinuityTest 或 Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信
   号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引
   脚、电源或地发生短路。

测试方法：

2，基于 PMU 的 Open-Short 测试是一种串行（Serial）静态的 DC 测试。*首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清 0）（），接着连接 PMU 到单个的 DUT 管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管—— 一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图 3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图 3-2），电流的大小在 100uA到 500uA 之间就足够了。大家知道，当电流流经二极管时，会在其 P-N 结上引起大约 0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。

附：PMU 不同的ATE机台的名称不相同，以ND2机台为准，测试电源PIN的 OS是DPS和RVS 资源。测试logic IO PIN的的 是MDC和UDC 单元（PerPIN结构）。 测试LCD PIN的是，HVDC单元*。 清 0，在不同IC分供电，logic PIN供电为IOVCC ,测试时要进行拉低处理。在测试LCD芯片时，source 和gate的IC内部的电源分别为 VSN/VSP 和VGL/VGH ,所以测试source pin 和 gate pin 时 需要把这几个电源拉低处理，禁止floating。

OS的pattern 测试方法

不同IC的PIN差异巨大，在测试程式中会对不同类型PIN分类，进行PINLIST分类处理。以LCD 驱动IC为例。Source PIN近几千根。所以一般会选用pattern进行测试。减少程式代码量。减少测试时间。

程式中首先要对Z 比较的limit做定义处理，

lcd_set.Lcdpin(PL_EVEN_DP);
lcd_set.Mode(FT);	lcd_set.LcdVout(LCDVT1,volt_lcd_voh[1],volt_lcd_vol[1]; // 使用可编程负载和电源负载选择VT1作为阈值电压,设置比较电压的limit VOH和VOL =  LCDVT1 =-2V  负载电流为 -100uA
lcd_set.LcdVt(R40V,volt_lcd_vt,100uA,-100uA);
//指定LCD引脚可编程负载的高电平输出负载电流和负载的阈值电压
lcd_set.Load();

lcd_set.Lcdpin(PL_EVEN_DP);
lcd_set.Mode(FT);	lcd_set.LcdVout(LCDVT1,volt_lcd_voh[1],volt_lcd_vol[1]; // 使用可编程负载和电源负载选择VT1作为阈值电压,设置比较电压的limit VOH和VO LCDVT1,L =  2V  负载电压选的是100uA
lcd_set.LcdVt(R40V,volt_lcd_vt,100uA,-100uA);
//指定LCD引脚可编程负载的高电平输出负载电流和负载的阈值电压
lcd_set.Load();

测试log如下

电源PIN只有对地的 diode.测试时只能进行 拉电流进行驱动. 在 T6600 系列测试系统中，(T6391系列已经可以)没有提供把电源 pin(PS 端子 ) 与 DC 测试单元连接的功能。因此电源 pin 的 contact 试验不能通过 DC 测试单元的 VSIM 模式来进行。电源 pin 的 contact 试验要通过 DPS 的 VSVM 模式来进行。
测试模型如下图

Va和Vb的电压 通过 DPS 输入到芯片电源 pin。如果电路连接正常的话，测得值应当等于芯片内部二极管产生的电压降 Vb。如果电路连接不正常的话，测得值是 DPS 所提供的电压 Va+Vb。

dps_cont.pin(Vcc);
dps_cont.SRng(R8V);
dps_cont.SVal(-1.5V);
dps_cont.MRng(M8V);
limit_cont.upper(-0.1V);
limit_cont.lower(-0.9V);

输入电压 : -1.5V (a+b)
判定基准如下：在进行 Contact 测定 ,
正常时为 -0.7V (b), 断路 (Open) 的情况
时为-1.5V (a + b)，ground短路时0V。