芯片测试
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
import java.util.*;
/**
* @author DELL
* @Date 2020/3/25 16:18
**/
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner input = new Scanner(System.in);
int n = input.nextInt();//芯片个数
int[][] map = new int[n][n];//表
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
map[i][j] = input.nextInt();
}
}
input.close();
HashSet<Integer> result = new HashSet<>();//用于保存结果
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
if (i == j) {//排除芯片对本身进行测试的情况
continue;
}
if (map[i][j] == 1) {
if (map[j][i] == 1) {
result.add(i + 1);
result.add(j + 1);
}
}
}
}
//第一次遍历之后,将行和列相交处为1的情况保存在result中
//但是其中有错误结果,例如两个芯片都是坏的,但是他们互相检测的结果都为1
//此种情况需要排除
Object[] arr = result.toArray();
int[] tmp = new int[arr.length];
for (int i = 0; i < arr.length; i++) {
//因为给check传递的数组是int型,所以此处将Object类型的数组转换成int保存在tmp中
//将Object转int不能直接转换,此处先将Object转为String,再转为int
tmp[i] = Integer.parseInt(String.valueOf(arr[i]));
}
result.clear();
//调用此方法后保证返回的是好芯片
int check = check(tmp, map);
//通过好的芯片再去检测其他芯片,则结果一定正确,
//因为题中说明用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏
for (int i = 0; i < n; i++) {
if (map[check][i] == 1) {
result.add(i + 1);
}
}
Object[] objects = result.toArray();
for (int i = 0; i < objects.length; i++) {
System.out.print(objects[i] + " ");
}
}
/**
* 排除两个都是坏芯片但是检测结果都为1的情况
*
* @param arr 第一次遍历后的中间结果
* @param map 检测表
* @return 返回的芯片一定是好的
*/
public static int check(int[] arr, int[][] map) {
int check = 0;
int j;
for (int value : arr) {
check = value - 1;
for (j = 0; j < arr.length; j++) {
if (map[check][arr[j] - 1] != 1) {
break;
}
}
if (j == arr.length) {
break;
}
}
return check;
}
}
- 此方法没有经过优化,仅供参考,其他练习可关注我的个人博客!不将就