CP测试常见问题及处理方法

仅是个人学习的一个笔记摘录，不是个人的原创，本资料源自百度文库。

开短路（open/short）

1、异常现象

测试IC保护二极管电压偏低或偏高（一般为0.2V short和1.2V open）

2、异常分析

Open/short多为硬件因素影响，需从硬件入手，再对产品进行确认是否异常

3、处理方法

1、检查探针卡扎针是否良好，针卡是否焊线脱落，错误等。
2、检查DUT板使用是否错误或焊线脱落，错误，pin针脱落等。
3、确认接地线是否良好
4、确认晶圆放置方向是否错误
5、如有不稳定现象，检查针卡是否有电容充放电影响或对测试机进行校正
6、确认程式是否设置不当
7、直接用万用表量测IC  I/O  PIN对电源PIN是否有保护二极管
8、排除以上因素需对测试机进行校正确认
9、实际确认产品异常需开异常单确认

4、open/short失效举例说明

1、按测试结果检查对应的通道是否断线，虚焊，短路或对应接线表是否焊线错误
2、有些产品针卡电容较多，电容的充放电会影响O/S测试，此时需用断电器切换电容或测试O/S时DPS先给一个小负电压后DPS再给0V测试，同时O/S测试时可以给相应的延时测试
3、有些产品来料已切不能确定缺边方向，此时需偿试不同角度O/S测试情况，也可用万用表协助确认通道至电源PIN保护二极管
4、产品来料可能存在O/S异常，直接用万用表量测是否有保护二极管确认
5、有些通道在OPEN/SHORT未测试到，但在功能测试时表现出异常，通常如通道OPEN时，功能输出测试时通道为高阻态，输出多为H或Z

静态电流（ISBY）

1、异常现象

ISBY超出电流范围

2、异常分析

ISBY通常小于5uA，容易被干扰，以实际量测为准

3、处理方法

1、检查针卡接触是否良好,针卡是否存在短路的因素及接线干扰
2、检查电源PIN是否有电容影响
3、检查接地线是否良好和是否开关灯测试
4、检查ISBY坏是否其他项目测试通过
5、确认程式量测电流档位不当或上电延时太短等设置影响
6、确认测试机是否存在电流测试异常
7、万用表实际量测确认电流值是否异常或用指针表指针有明显的摆动不稳定现象
8、实际量测值确认超出范围需开异常单确认

4、ISBY失效举例说明

1、ISBY会因不同测试机的差异或不同的电流量测档位测值会有不同，ISBY测试分档较多
2、isby失效或量测时有些被量测电流档位嵌位，需用万用表实际量测实际电流值,类似这种可能芯片上电未有静态失效，IDD，Freq，Func通常都会有影响。也会有IBSY失效后Func正常，但IDD会较正常芯片值高约100uA以上。有些被电流量测档位嵌位,Func多数都失效。具体需看ISBY失效值与规格上限相差，相差越大，其它测试项目影响的可能性也就会越大。
3、针卡等硬件，电容，接地是否良好也会影响Lsby测试，针卡我们都有将排线焊到针卡盘上，对针卡进行割线处理，针与针之前用刀片划过等方法都是为减少测试干扰
4、有些产品Isby测试中不稳定，这时最直接的方法就是用指针表外部上电验证看指针是否在摆动来确认lsby的不稳定是否为产品原因

工作电流（IDD）

1、异常现象

IDD超出电流范围

2、异常分析

IDD为IC工作时的电流，较IBSY大，以实际量测为准

3、处理方法

1、检查针卡接触是否良好,针卡是否存在短路的因素及接线干扰
2、检查电源PIN是否有电容影响
3、检查接地线是否良好
4、检查IDD失效是否其他项目测试通过
5、确认程式量测电流档位不当或上电延时太短等设置影响
6、确认测试机是否存在电流测试异常
7、万用表实际量测确认电流值是否异常或用指针表指针有明显的摆动不稳定现象
8、实际量测值确认超出范围需开异常单确认

4、IDD失效举例说明

1、Idd测试类同lsby会因不同测试机的差异或不同的电流量测档位测值会有不同。
2、Idd失效或量测时有些被量测电流档位嵌位，需用万用表实际量测实际电流值。闪灯音效类，遥控器芯片动态电流通常在几十微安或几百微安，不会低于静态电流。当IDD电流超出量测范围一般功能都有可能失效，此时可以实际验证。
3、电子表类IC，IDD通常都会小于10uA，如AH6802/6803/6804电流值小于3uA。有些产品IDD测试中不稳定,这时最直接的方法就是用指针表外部上电验证看指针是否在摆动来确认IDD的不稳定是否为产品原因，如L539122-010在一次测试中IDD不稳定失效多，实际验证用指针表验证时指针一直在跳动

频率测试（Frequency）

1、异常现象

Frequency超出范围或无频率输出

2、异常分析

频率为IC工作时的OSCO或测试端输出频率，以实际量测为准

3、处理方法

1、检查针卡扎针是否良好，针卡是否焊线脱落/错误，电容影响等。
2、频率无输岀或不稳定时，确认晶振或振荡电阻是否异常。
3、频率无输出或不稳定时，检查OSCI/OSCO是否存在干扰，通常针卡振荡端需作割线处理或尽可能少接线减少干扰
4、频率不稳定时，检查硬件原因外,需用示波器确认晶振是否起振太慢。
5、频率不稳定时，确认频率输出波形是否正常，程式设置的电平、采样点等。
6、频率无输岀时，确认程式设置条件是否正确，晶振是否起振
7、实际模拟芯片工作，确认IC是否起振工作。
8、确认频率输出异常，其它测试项是否通过，需用示波器确认提岀异常单。

4、Frequency失效举例说明

1、振荡端和测试端通常都会作割线处理，减少频率测试干扰。
2、OSCI端波形都比较弱，尽可能的少接线或引线延长，特别是接振荡电阻起振的IC。
3、晶振起振时有些产品起振会较慢或起振信号弱，测试机量测不稳定,可加两个并联晶振加快起振或用7404作缓冲，如L539129/130系列产品，AH6804等产品
4、程式采样电平和采样次数也会影响频率测试，如QG产品测三阶波开的频率时高低电平时频率相同，在低电平时杂讯较多，可以将采样电平调整到高电平测试。
5、实际频率失效时，可以用示波器实际点测结果。

功能测试（Function）

1、异常现象

功能失效与所正常功能不相同或与多数芯片功能不同

2、异常分析

以实际验证结果为准

3、处理方法

1、检查针卡接触是否良好，针卡是否焊线脱落，错误，干扰等因素。
2、检查DUT板使用是否错误或焊线脱落，错误，PIN针脱落等。
3、确认产品是否开关灯测试
4、闪灯音效类IC通过验证板验证工作是否正常。
5、通过学习向量与实际正常向量比对是否有较大的差异。
6、调整TP、VIH/VIL、 VOH/VOL偿试是否功能正常。
7、确认程式是否设置当影响功能测试
8、用示波器验证输出波形是否正常
9、确认产品异常需提出异常单确认

4、Function失效举例说明

1、闪灯音效类IC可以用验证板验证功能是否正常
2、TP/VIH/VIL/VOH/VOL适当调整，有些闪灯类IC如灌频太快，功能不稳定或误放实际应用失效如AH6803 COM测试用32KHz，100KHz可PASS但会存在功能失效误放，实际应用就有问题。TA0810D测试的产品中VIL需要加负压功能测试才会正常，否则在功能向量501行第十四，十五通道H失效。比较电平设置可以通过示波器观察输出pIN波形幅度来选择合适的电平，高低电平尽可能的拉开。
3、有些产品会受外界干扰较大，会对针卡割线或接焊线直接焊在针卡PAD盘上，如IW0610，LC08157