TPAMI 2024 | MsSVT++: 用于3D目标检测的混合尺度稀疏体素TransFormer与中心投票

MsSVT++: Mixed-Scale Sparse Voxel Transformer With Center Voting for 3D Object Detection

题目:MsSVT++: 用于3D目标检测的混合尺度稀疏体素变换器与中心投票

作者:Jianan Li; Shaocong Dong; Lihe Ding; Tingfa Xu


摘要

大规模户外场景中精确的3D目标检测需要同时具备丰富长距离和细粒度信息的特征。尽管最近的检测器已经利用基于窗口的变换器来模拟长距离依赖性,但它们往往忽视了细粒度细节。为了弥补这一差距,我们提出了MsSVT++,一种创新的多尺度稀疏体素变换器,它通过分而治之的方法同时捕获这两种类型的信息。这种方法涉及显式地将注意力头分为多个组,每个组负责关注特定范围内的信息。这些组的输出随后被合并以获得最终的多尺度特征。为了减轻在3D体素空间应用基于窗口的变换器所带来的计算复杂性,我们引入了一种新颖的棋盘采样策略,并使用哈希映射稀疏地实现体素采样和聚集操作。此外,一个重要的挑战来自于观察到非空体素主要位于物体表面,这阻碍了边界框的准确估计。为了克服这一挑战,我们引入了一个中心投票模块,它将新投票的体素与混合尺度上下文信息整合到物体中心,从而提高精确的目标定位。广泛的实验表明,我们的单阶段检测器,建立在MsSVT++的基础上,始终在不同的数据集上提供卓越的性能。

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IEEE TPAMI(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。

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