SOLT校准(去嵌De-embedding)

SOLT校准(去嵌De-embedding)

在射频微波器件测试中，我们通常将其散射参数作为测试的目标，通常使用矢量网络分析仪来进行直接测量。另外，矢量网络分析仪还可将其转换为其他形式的特性参数。
随机误差、漂移误差和系统误差是矢量网络分析仪的主要误差来源。其中，系统误差对矢量网络分析仪测试结果准确度的影响是最大的，但我们可以使用相应的校准方法来消除系统误差的影响。
SOLT（Short-Open-Load-Thru）校准法是常用的一种校准和去嵌入的方法，它基于12项误差模型。
12项误差包含前项误差和后项误差各6项，分别是：
Edf：方向性误差：由定向耦合器产生
Esf：源匹配误差：由源匹配不良产生
Elf：负载匹配误差：由负载匹配不良产生
Erf：反射跟踪误差：接收机、混频器产生
Etf：发射跟踪误差
Exf：串扰误差：由耦合产生
后项的Edr,Esr,Elr,Err,Etr和Exr同理。

系统框图：

由此可得：




其中：

Short 短路：

可知：S11A=S22A=-1，S21A=S12A=0，于是：

Open 开路：

可知：S11A=S22A=1，S21A=S12A=0，于是：

Load 负载（匹配）：

可知：S11A=S22A=S21A=S12A=0，于是：

Thru 直通：

可知：S11A=S22A=0，S21A=S12A=1，于是：

联立上述方程求解：
即可得到被测器件的S参数。

在ADS和Matlab软件中仿真验证：

待更新…