芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

import java.util.*;
 
public class Main 
{
 
    public static void main(String[] args) 
    {
    	Scanner cn=new Scanner(System.in);
    	int count=cn.nextInt();
    	cn.nextLine();
    	int [][]kk=new int[count][count];
    	
    	for(int i=0;i<count;i++)
    	{
    		String str=cn.nextLine();
    		String []ss=str.split("\\s+");   //分割空格
    		for(int j=0;j<count;j++)
    		{
    			kk[i][j]=Integer.valueOf(ss[j]);
    		} 		
    	}
    	
    	/*或者这样简单的输入
    	 * for(int i=0;i<count;i++)
    		for(int j=0;j<count;j++)
    			kk[i][j]=cn.nextInt();*/
    	
    	String str2="";
    	for(int i=0;i<count;i++)//  通过列去遍历  这样就是其他的芯片对一个芯片的判断
    	{
    		int sum=0;
    		for(int j=0;j<count;j++)
    		{
    			if(kk[j][i]==1)sum++;
    		}
    		if(sum>count/2)str2=str2+String.valueOf(i+1)+" ";
    	}
    	System.out.println(str2);
    	
    	/*或者这样简单的输出
    	 * System.out.println(i+1+" ");*/
    	
    }
}