S32K3: STCU2_s32k3 bist-CSDN博客

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前言

STCU2（Self-Test Control Unit ），从名字就可以看出来，它是一个自检的控制模块，即 BIST（Build-In Self-Test）控制器。BIST 简单的来说就是一种芯片自我测试方式,用来验证芯片自身部分功能正不正常

芯片上的 BIST 由若干个 BIST 分区组成，每个 BIST 分区负责一部分模块的自检，所有分区加在一起就是整个芯片自检过程

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BIST 又根据分区内是逻辑模块还是存储模块分为 LBIST（Logic BIST）和 MBIST（Memory BIST）这两种。而在 K3 中，这两种 BIST 都是有的

BIST 又有两种模式，分别是 off-line 和 on-line，其中 off-line 就是不需要软件的干预，硬件自己完成 BIST 测试，而 on-line 则需要软件来控制

S32K3 只支持 on-line 模式，其中 S32K312 和 S32K311 不支持 LBIST.

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LBIST 只有 1 个,包含 DMA,CRC 等模块的自检

MBIST 最高达 18 个

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STCU2 通过控制 LBIST_CTRL 和 MCT 来分别完成对 LBIST 和 MBIST 的控制(如上图)

为什么上图分成两个逻辑分区:

猜测是因为每个逻辑分区所需的自检逻辑不一样,所以每个逻辑分区都对应一个 LBIST_CTRL 逻辑自检控制器

而存储的自检逻辑是相同的,因此一个 MCT 便可以控制多个 MBIST

功能简介

STCU2 可以串行(顺序)或并行(同时) 控制 LBIST 和 MBIST 的执行

内置 1 个可编程看门狗定时器,可以监测 LBIST 或 MBIST 是否在规定时间内完成自检,如果超时,产生中断(但是现有 SDK 包中未实现)

简而言之：

管理 BISTs 的执行
指示每个 BIST 是否通过
管理芯片的 LBIST 和 MBIST 块

下图为 STCU 的功能框图：

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STCU 有三个 FSM:

Master FSM 为 STCU 的核心单元，主要负责 BIST 测试控制
Loader Shifter FSM 主要负责控制参数和测试结果反馈到寄存器之间的交互
WDG FSM 为 STCU 的超时监测单元，如果 BIST 运行超时，这个模块会打断 BIST 的执行,并默认将其视为可恢复复位错误发送至 FCCU

LBIST 和 MBIST interface：在整个 BIST 自测试中，STCU 只是控制单元，所以这两个 interface 是控制单元与执行单元之间的接口

Interrupt 信号：STCU 检测到 BIST 超时时可以产生一个中断，STCU_LBIST_MBIST_IRQn =191（但是这个中断在 RTD 中并没有被实现）

FCCU 信号：STCU 可以将 recoverable 错误输送给 FCCU，而这个是否为 recoverable 是可配置的。

MBIST 将 K3 分成了 12 个区域，而 LBIST 则共 1 个区域，总共有 12+1 个区域（详情请详见 RM 手册 STCU 章节的 51.1.3 STCU2 LBIST/MBIST mapping）

用户是可以将这些区域的配置成是否为 recoverable 和 unrecoverable 的 BIST，如果是 recoverable 的区域在自测试的时候发生了错误，那么这个错误就会报告到 FCCU 模块，如果 unrecoverable 的错误发生了，则直接发送信号给 MC_RGM 触发破坏性复位。

STCU 也可以控制 EOUT 信号，发生错误时可以使用 EOUT 将错误信号传送给外部 SBC。

配置选择

safetyboot 相比 dia 少了一个 HSE Memory(存疑)的检查

在线 BIST 的预期用途是对应用程序启动至关重要的内存和模块执行测试。这有助于最大限度地减少 MCU 的启动时间。在启动时执行完整的 BIST 将超出许多用户的需求。在线测试主要用于 MCU 的完整 BIST，通常在 ECU 关闭之前执行，此时执行时间不那么关键。在线模式还可用于制造环境中的故障诊断和质量控制。