之前一篇写了电平转换器,这次写下光电耦合器。
光电耦合器,也就光耦:一个发光装置与一个光敏性元件组合来传输信息。
对IGBT来说这个信息就是控制器到IGBT的开关命令,慢慢的IGBT的状态与故障信号也反向传输到控制器。下面是两个集成光耦的示例图
光耦和电平转换器一样,都只能传递信号,不能传递能量,所以驱动IGBT还得有一个外部隔离电源。光耦目前可用于额定电压Vces在1700V的IGBT中(如果不考虑成本,将集成电路封装更大,增加爬电和电气间隙,那么也可以用于更高电压等级)。
对于光耦,有一个参数是我们着重要考虑的:传输延迟时间,也就是输入到输出的时间。这个时间一般在几百个ns,规格书也会标一个典型值,但是也会有一个公差范围,如果是单单这个时间,我们设计时可以将他考虑进去。下图是一个输入到输出光耦的时间延时图示:
不可控的是,这个延时会在我们使用的过程中(老化)会发生巨大的变化。如果我们设计时,将死区时间余量做的太小,关断太慢会可能会产生us级的窄脉冲,从而导致上下桥直通;死区时间余量做的太大,会导致输出逆变电路输出电流失真更大。
我们常规的死区时间计算:IGBT的开通延时max+关断延时max-下降时间min+光耦传播开通延时max-光耦传播关断延时min。考虑老化时间,往往会×一个老化系数来保证可靠工作。但是这些参数规格书有的并不会写明在规格书里。甚至老化系数均是要在实际应用和调试中测量的。
还有就是我们在做高电压和大功率机器时,往往需要串联和并联模块来增大耐压和电流,如果误差时间过大,导致IGBT开通关断不一致,那么很可能导致IGBT损坏。