掉电存储错误及设计优化案例分析

I 问题现象

测试中发现，再产品不加电池/电池欠电时，可能存在掉电后，再上电存储读取失败的现象。

II问题分析

掉电部分硬件设计如下：

电源采用1W变压器，分2个绕组，1个绕组给CPU，一个绕组给RS485通讯，这是主流设计。CPU有电池供电，具备停电唤醒功能。

一、故障复现：
复现条件：电池断开 掉电I2C波特率 100K ，加电流出脉冲走字。 掉2次，错误6次，一次掉电产生3次EEPROM读取错误。
如下：

经检查代码，掉电存储的内容一次如下：
系统状态 44BYTE
剩余金额 20BYTE
总尖峰平谷电能 124BYTE
以及其他可能需要存的。
掉电事件记录。（最后保存内容）

故障复现原理：存储内容未发生变化时，即使存储失败，也不会产生上电EEPROM读取错误。因此需要发生数据改变才能复现。

二、故障分析：
1、通过调整电容，使得仅靠电容供电也能满足掉电存储要求。掉电设计计算：
C(F)*U(V)=I（A）*T（S）
上述公式中，已知C，可测出U跟I，可计算出T。

测量I
经过测试，掉电存储时间需要262ms。（有没有脉冲，时间一样）


2.68V 尚可正常工作(右图)。产生压降是因为回路串100欧姆，用来测掉电电流。

短接串联电阻，再测试掉电及电源切换电压。掉电电池供电电压3.16V。


手册关于切换电压的描述，跟实测2.9V相符。

由上可计算出掉电功耗：0.5V/100欧姆=5mA。
延长电容时间需要降低功耗：
掉电后关闭EMU模块：再测功耗，（0.4-0.16）/100=2mA左右。


降低约一半功耗。

计算U
掉电阈值配置为0.9V。


CPU正常最低工作电压：LVD设置为2.7V


根据电路设计分压值，计算得到B=0.9V时，A为5V。
0.91220/220=4.99V。
掉电电压只需要保证80%Un 正常工作即可，显然5V偏低。
实测80%电压下 A点电压>8V，如下图：
按8V掉电计算BR22取值 0.9/7.11000K = 128K
按7V掉电计算BR22取值 0.9/6.1*1000K = 147K 取值150K 按7V测算。
ji
综合电阻种类，BR24改为100K，BR22改为15K。A点按7V计算。A点电压抬高2V ，导致电容上电荷支持的时间增加理论值计算如下:

470*10-6 2V=210-3 *t t=470ms。足够掉电存储用时。
实测掉电存储波形：

所有数据存储完毕后，还有100ms左右余量 3.3V才开始下跌。符合设计要求。

经测试，不加电池，掉电记录每次均能存储成功。如下图

III、解决办法

1、检测到掉电后，立即进入低功耗模式，延长电容使用时间。
2、掉电检测电压阈值应该低于80%额定电压，取最大值。尽可能延长电容使用时间。

IV、总结建议

按新设计，重新进行掉电相关测试，确保工作稳定可靠。