电场兼容测试-近场辐射测试

概要

在开发产品的过程中,或者想要获得相关证书进行电磁兼容测试(EMI:Electro Magnetic Interference)的时候,EMC干扰会对原有的电磁环境产生比较严重的影响。为了尽量减少这种干扰的影响,全球各国政府和地区机构共同制定了很多通过标准,对不同产品的电磁干扰设置了相应的限制,使相应的测试机构可以遵循相应的条款,对产品进行EMC测试。

许多 EMI 测试失败是由于射频泄放与电路或者设计本身相互影响,我们不禁要问:

•是什么导致了这种问题?

•造成这种辐射干扰的信号或者能量的源头是什么?

•我该怎么解决它?

幸运的是,存在一些比较简单的仪器和技术可以帮助我们找出EMI干扰源。一旦你找到了干扰源,就会有一系列解决此类问题的方法。这种技术不是标准的EMI兼容测试的一部分,属于预兼容测试,可以帮助找到干扰可能存在的地方,从而尽快地低风险地通过电磁兼容测试。

在本篇文章中,我们打算介绍一些通过预兼容测试的方法来识别电磁干扰源的技术,这种技术可以快速找到干扰源,而且通过一个小小的夹具就可以做一系列重复试验从而获得大量的数据并且把这些数据关联起来。这些都可以为你下一款产品进行EMC测试时提供很有价值的参考。

注:预兼容测试是用来找出并解决那些在兼容测试中可能出现的问题,预兼容测试在实验条件上并不能完全模拟兼容测试。

电磁波辐射基础知识:

电磁辐射最常见的产生方式是导体中电流的突变或者电压的骤升,辐射的路径通过PCB走线,器件的引脚,连接器或者是其它的金属介质,包括机箱,机架或者是产品的外壳。这个电磁辐射实际上是指电场和磁场的相互作用,相互影响。它被这样描述:正交时变的电场和磁场的传播。如图1所示:

图1 图左上角是电磁波的传播,注意,电场和磁场是互相正交的

尽管电场和磁场是由同一现象产生的,但是他们对环境的影响是完全不同的。磁场仅仅由移动的电荷(即电流)产生。在大多数电路中,电流通过 PCB走线、 器件引脚进行传导。因此,磁场在走线中产生的电磁场中倾向占主要地位,从而传导信号和能量到电路中不同的部分。

如果你回头看一下你的大学物理课本,会发现磁场这块知识会稍微简单一点。回想一下,一根无限长的导线所产生的磁场计算方式遵循安培法则:

在一个以这个导线为中心的闭合圆形路径上,总磁场可表示为:

注:B:磁场

µ0:指自由空间的磁导率(连续的)

I:指电流

r:指这个磁场的半径(计算点到这根无限长导线的距离)

图2 是对这种关系的物理表示。注意,这也可以被描述为右手定则:伸出右手,握住导体,大拇指指向电流的方向,则四指指的方向即是磁场的方向。

图2 由电流产生的磁场

和磁场不一样,电场是因为移动或者静电荷产生的。通过这种方式,当感受到散热片或者金属外壳上的电磁波的时候,电场会影响并改变磁场。这种电场效应也会倾向于改变离源头更远的地方(即远场)。因为环境因素例如无线电台,wifi或者是人为的干扰射频信号,远场测量更容易出现错误。远场测量,比如说某个兼容测试的信号发射部分的表现测量,会比近场测量需要更复杂的设备和更丰富的知识。

通过测量由导体产生的电磁场的相位和频率,我们可以找出导致EMI问题的最高电势点。

设备清单:

以下是一些用于近场故障排除的基础设备清单:

频谱仪/EMI接收器:通过频率测量射频信号的能量。频谱仪的最高频率至少应该是1GHz, DANL为-100dBm (-40dBuV)或者更小,RBW至少为10kHz。

图3 鼎阳的最高输出频率为2.1GHz的频谱仪SSA3021X

近场探头:购买或者手工自制。一些是磁场近场探头,也有电场的近场探头。

电流探头:购买或自制。

50欧姆同轴线缆:配合近场探头和频谱仪的输入口使用带有连接器的同轴线缆。如果需要的话,探头,同轴线缆,连接器可以配套购买。

探头:

移动的电荷可以产生电磁场,并且可以由导体辐射整个空间,我们利用这些磁场去间接检测一个回路里面的电压,然后通过测量电压来得出源电场的强度。

在EMI故障排除的过程中,最常用到的两种探头是近场探头和电流钳。

磁场探头和电流钳遵循相似的使用规则。我们是可以测出在探头周围环形区域的磁场以及电压值(见图4)。环形区域越大,磁通量就越大。因此更适合寻找一些微弱的信号;但是小的环形区域可以得到更好的空间分辨率,(从而可以更精确的找到问题点)。许多测试工具包会提供多种大小的探头(或电流钳),从而可以使用户在测试过程中在空间分辨率和敏感度之间取得更好的平衡。

电场探头通常不会有一个环形的区域。用他们获得电场信息的方法更像是单极天线。电场探针和磁场探头的旋转与否是不重要的,重要的是其与信号源的距离。

以下是一些关于使用探头的指南:

· 通过关闭被测设备和观察频谱仪的显示可以测出本底辐射。注意,任何可能由环境或者本底引起的射频干扰都要关注。如果在屏蔽良好的实验室中,这可能不是很大的问题,但在普通的实验室中,一定要提前知道环境当中的背景干扰。

· 探头的摆放。通信端口终端,任何的断流器,通风口等,这些都是通常容易出现问题的地方。

· 电场或磁场的探头离信号源近一点会测得更高能量。

· 磁场探头放置的方向垂直于磁场会比平行于磁场测得更高的振幅。

因为在重复的实验中探头的位置是比较重要的,因此把一个不导电的夹具(如木头,塑料)固定在被测设备上,那么探头就可以使用了。记住,探头的位置和放置方向是十分重要的,一点点的位置偏差或者一点点的角度偏差都会在对被测设备进行实验时引起很大的误差。

图4 磁场探头的摆放和角度影响被测设备测得幅度

图5 一组不同空间分辨率的近场探头

图6 使用近场探头对PCB板进行辐射测量

电子设备中的线缆和连接器都需要很好的屏蔽并且接地正确,因为它们是很好的天线,导体外部的微小电流很容易造成导致探测到的辐射量超过设定的电磁兼容限制。电流钳和频谱仪配合使用可以用来探测线缆和连接器的屏蔽效果。

电流钳和近场探头遵循的使用规则一样。我们可以直接购买或如图7所示把线圈缠在铁夹和BNC连接器上自己制作。把电流钳靠近待测的线缆,并且同时把它连接到频谱仪的输入端口,同时把频谱仪的频率调到需要的范围。

图7 一个手工制作的电流钳

以下是探头的一些使用指南:

· 如果不能确定输入信号的大小,可以在测量之前给频谱仪的RF输入端加一个外置的衰减器。电源线或者其它高功率的应用可能会损坏频谱仪RF输入端口。

· 测量所有可能和被测设备连接的线缆,包括电源线,USB线,网线等任何可能(和被测设备连接)的线。(如图8)

图8 测量一个连接到示波器的USB线的射频干扰

· 电流钳,尤其是手工自制的,对环境中的RF信号特别敏感,这可能使得你测到的信号不准确或者是错误的。先连接所有的电缆,探头等,然后通过关闭被测设备来测得环境中的RF信号,然后把这个背景数据和打开被测设备时的测得数据相比较,从而得到准确的数据。这对于循环多次测试不断变化的环境中的被测设备的RF信号来说也是一个好办法。

图9 由电流钳测得的环境中的RF信号轨迹(黄色);以及打开DUT时的信号轨迹(紫色)

· 如果你的RF测量实验失败了,那么从出现错误的频率以及这些频率的基波开始着手寻找问题

检查和评价:

在使用探头检测到的信号可能并不是真实的干扰数据,但是通过观察分析测量结果,对比被测设备的前后状态等技巧,你可以更快的进行故障排除。

以下是一些备选的技巧,可以帮助我们观察更多实验中的细节:

1. 大多数的频谱仪不具有预选器。如果你是用一个不配备预选器的频谱仪,你观察到的峰值可能不是真实的。由于干扰信号和待测信号混合在一起,没有预选器的频谱仪看了能会观察到一个假峰。

你需要通过外加一个衰减器(可以3 dB或者10dB)测试一下这个峰值的有效性,真实的峰值会随着衰减量下降。如果峰值下降的量大于外加衰减的量,那么这个峰值很可能是一个假峰。把这个假峰标注出来和兼容测试中得到的结果进行对比。你也可以使用预选器或者EMI接收器,但是这些配件对于大多数快速测试来说是成本高昂的。

图10 是一个典型的峰值测试实验,黄色的轨迹是没有使用衰减器得到的,紫色的则是给频谱仪的射频输入端外加了一个10 dB的衰减器得到的,这种情况下,峰值下降的量和所添加的衰减量是一致的。这帮助我们确认了峰值是真峰而不是干扰信号。

图10 使用频谱仪的标记功能对两次扫描结果进行标记黄色的轨迹是没有使用衰减器得到的,紫色的则是给频谱仪的射频输入端外加了一个10 dB的衰减器得到的

2.一些具有最大轨迹类型保持功能的频谱仪将会连续的保存每次频率扫描的最大值,你可以把一个单轨作为“清除写入”(你可以打开一条迹线为“清除写入”状态),来表现射频信号,然后把另一条设置为最大保持。这使得你可以比较被测设备在最坏的情况下的收集的数据的变化,并且使用最大保持功能“固定”它们。

3. 可以使用标记和峰值表功能去清楚的找出峰值频率和相位。

图11 打开标记功能和峰值表功能的频谱仪SSA3000X的界面

结论:

1. 磁场由流动的电流产生。使用磁场近场探头靠近导线或回路去甄别电磁辐射。

2. 电场由流动的电流或者静电荷产生。使用电场近场探头在金属平面(例如散热器,机箱,显示屏的边界或者是机壳的缝隙等)去甄别电磁辐射。

3. 使用电流钳去甄别潜在的辐射和从线缆和连接器泄漏的谐振。

4. 显示屏,机壳的缝隙,带状线缆和通信端口及总线是最可能导致辐射泄漏的地方。

5. 用导电带或铝箔包裹住可能产生泄漏的部分,并确认包裹是接地的,再次扫描被包住的地方的否还有EMI。

6. 连接不良的电缆和连接器也会导致辐射问题。

7. 通过给被测器件断电并监测频谱仪上的输出,可以多次测量环境的影响。在测量中要标注出任何的变化以及它们所带来的潜在的影响。

通过一些简单的设备,你可以在室内进行预兼容测试过程,这会使得产品的生产时间变短,降低设计成本,以及减少下一代产品研发过程中的反复测量次数。

引用请注明出处——“鼎阳硬件设计与测试智库”微信号(SiglentThinkTank)

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