VCO输出端的分频器对相噪和杂散的影响

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于 2021-07-30 00:38:20 首次发布
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PLL（锁相环）在测试相噪时，VCO输出信号通过D分频会导致相噪和杂散幅度分别下降20log10(D)和20log10(D)，但频率偏移量保持不变。每2分频可改善6dB相噪，而倍频则相反。因此，在PLL测试中，应避免分频或倍频以保留原始信号特性。

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       当VCO的输出信号通过D分频时，其相噪下降20log10(D)；杂散幅度亦下降20log10(D)，但频率偏移量(offset frequency)保持不变，即每2分频,改善6dB，而倍频则相反，由此在PLL测试Phase noise时，尽量不要分频或倍频，保持原有信号。 在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述
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远上寒杉的专栏
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关于VCO调试过程中出现相噪-141dBC/Hz@50KHz说明
deng_d1的博客
02-27 3103
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Q1： 通常情况下，一个单频率正弦信号在频域上应该是一个单脉冲，而实际观察中，会发现在频谱上在该频率周围起刺，低噪被抬起来了，越接近信号频率，噪声越高，相位噪声就是描述这种噪声干扰的。在某频率下1hz频宽，噪声功率与载波的比值。这个是接收机本振信号的重要指标，灵敏度就看它了。 Q2： 相位噪声是指单位Hz的噪声密度与信号总功率之比,表现为载波相位的随机漂移,是评价频率源(振荡器)频谱纯度的重要指标。 Q3： 频域概念：相位噪声是对信号时序变化的另一种测量方式，其结果在频率...
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