VCO输出端的分频器对相噪和杂散的影响

PLL(锁相环)在测试相噪时,VCO输出信号通过D分频会导致相噪和杂散幅度分别下降20log10(D)和20log10(D),但频率偏移量保持不变。每2分频可改善6dB相噪,而倍频则相反。因此,在PLL测试中,应避免分频或倍频以保留原始信号特性。
摘要由CSDN通过智能技术生成

       当VCO的输出信号通过D分频时,其相噪下降20log10(D);杂散幅度亦下降20log10(D),但频率偏移量(offset frequency)保持不变,即每2分频,改善6dB,而倍频则相反,由此在PLL测试Phase noise时,尽量不要分频或倍频,保持原有信号。 在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述

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