BASIC-23 VIP试题芯片测试

最新推荐文章于 2023-02-05 20:49:54 发布

llsong98

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分类专栏：蓝桥杯文章标签：算法 c++

本文链接：https://blog.csdn.net/u014424618/article/details/105461066

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本文介绍了一种通过相互测试来区分好芯片与坏芯片的算法。在一个由多个芯片组成的集合中，好芯片的数量超过坏芯片，利用芯片之间的相互测试结果，算法能够找出所有的好芯片。通过分析测试结果矩阵，算法计算每个芯片被其他芯片判断为好的次数，若次数大于等于总芯片数的一半，则认为该芯片为好芯片。

摘要由CSDN通过智能技术生成

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
C++：

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int n,a[20][20];
int main(){
	cin>>n;
	for(int i=0;i<n;i++){
		for(int j=0;j<n;j++) cin>>a[i][j];
	}
	for(int i=0;i<n;i++){
		int res=0;
		for(int j=0;j<n;j++){
			if(j!=i) res+=a[j][i];
		}
		if(res>=n/2) cout<<i+1<<" ";//好芯片个数 超过一半 
	}
	return 0;
}